華中納米級(jí)工業(yè)CT

CT性能下的******

組合的二維/三維（計(jì)算機(jī)斷層掃描）操作所用的新的可選升級(jí)包將X-cube轉(zhuǎn)換成一個(gè)多功能試驗(yàn)機(jī)，使用三維錐形束CT進(jìn)行詳細(xì)的X射線檢測(cè)。 該采集，容積重建和可視化軟件運(yùn)行于集成計(jì)算機(jī)平臺(tái)，并提供了依樣本大小而定的約0.1毫米的詳細(xì)分辨率。

應(yīng)用領(lǐng)域

X-cube可應(yīng)用于所有需要對(duì)鑄件、鋼構(gòu)件、塑料，陶瓷和特種合金進(jìn)行快速和有效的影像學(xué)檢測(cè)的工業(yè)領(lǐng)域。 其多功能性意味著它可以同樣出色地用于生產(chǎn)部門或研究和開發(fā)設(shè)施和來(lái)料檢驗(yàn)以及故障分析。

其強(qiáng)大的設(shè)計(jì)和堅(jiān)固的軟件籠使其適合用于繁忙的車間，且符合所有重要的國(guó)際安全標(biāo)準(zhǔn)。 通過(guò)CT掃描將瓷器表面不同密度涂料通過(guò)密度差用不同顏色渲染區(qū)分，看到瓷器表面釉質(zhì)材料與內(nèi)部缺陷和孔隙。華中納米級(jí)工業(yè)CT

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—— 多功能高分辨率微焦點(diǎn)系統(tǒng)，用于二維和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)和二維無(wú)損X射線檢測(cè)

花崗巖底座，可以處理大樣本，并具有***高精度。該系統(tǒng)是用于無(wú)效和缺陷檢測(cè)和鑄件的三維測(cè)量（如首件檢測(cè)）的***佳解決方案。可選的第二種X射線管可使 v|tome|x L 450 適應(yīng)任何種類的工業(yè)和科學(xué)CT應(yīng)用。

顧客利益：

測(cè)量包用于空間測(cè)量，具有極高精度，再現(xiàn)性和親和力

使用***的軟件模塊以確保***高的CT質(zhì)量且便于使用，例如

 通過(guò)點(diǎn)擊并測(cè)量|CT使用datos|x 2.0進(jìn)行高度可重現(xiàn)的三維測(cè)量： 全自動(dòng)化執(zhí)行的CT掃描，重建和分析過(guò)程

 通過(guò) VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)（取決于體積大小）完成更快的三維CT重建

Seifert x|blade-----工作流增強(qiáng)選件：

使用 GE 的

    Flash!Filter（一種動(dòng)態(tài)調(diào)整算法，用于檢驗(yàn)影像表現(xiàn)的一致性），單擊一下即可優(yōu)化影像觀測(cè)

利用帶對(duì)比鎖定機(jī)制的軟件工具的數(shù)字參考圖像，用于根據(jù) ASTM 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)分類

集成在檢測(cè)工作流中的、配有光掃描器和識(shí)別系統(tǒng)的自動(dòng)部件識(shí)別

超快的GE

Jupiter 線陣列探測(cè)器能在每秒快速生成100幅圖像以生成二維射線圖像。通過(guò)分析這些重要的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息CT截面數(shù)據(jù)，可以很容易地對(duì)特定的感興趣區(qū)域進(jìn)行**識(shí)別。

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—— 應(yīng)用：材料科學(xué)

高分辨率計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro

ct 與 nano ct)用于檢測(cè)材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷，但也用來(lái)對(duì)地質(zhì)或生物樣品進(jìn)行分析。

材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。

鑄件與焊接

射線無(wú)損檢測(cè)用于檢測(cè)鑄件和焊縫缺陷。 微焦點(diǎn)X射線技術(shù)和工業(yè)X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(mico

ct)的結(jié)合，使得微米范圍內(nèi)的缺陷探測(cè)成為可能，并提供低對(duì)比度缺陷的三維圖像。

鑄鋁活塞的CT圖像顯示被檢測(cè)對(duì)象的隱藏的輪廓和內(nèi)表面，包括一些空洞，可自動(dòng)計(jì)算其尺寸和位置。

層析圖像是三維測(cè)量的基礎(chǔ)（表面重構(gòu)和標(biāo)準(zhǔn)實(shí)際值比較）

玻璃纖維增強(qiáng)塑料制成的物體的nanoCT： 玻璃纖維和礦物填料（紫色）的凝聚體的方位和分布都清晰可見。 纖維寬度大約為 10 μm.

檢測(cè)原理：射線透照材料后發(fā)生衰減，進(jìn)行二維X-ray成像；通過(guò)對(duì)樣品進(jìn)行360°掃描，獲得巖樣三維模型。

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——三維計(jì)算機(jī)斷層掃描

工業(yè)X射線三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對(duì)金屬和塑料鑄件的檢測(cè)和三維測(cè)量。

然而， phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用，如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。

材料科學(xué)-

玻璃纖維復(fù)合材料的nanoCT： 纖維氈（藍(lán)色）的纖維方向和基質(zhì)樹脂（橙色）會(huì)顯示出來(lái)。右邊: 樹脂內(nèi)的空洞會(huì)以暗腔出現(xiàn)。左邊： 樹脂已淡出，以更好地使纖維氈可視化。 氈內(nèi)的單根纖維是可見的。

渦輪葉片是復(fù)雜的高性能鑄件,要滿足***高質(zhì)量和安全性的要求。 CT可進(jìn)行故障分析以及***的三維測(cè)量（如壁厚） CT檢測(cè) – 動(dòng)力鋰電池(失效分析)。東北微納米工業(yè)CT檢測(cè)

航空葉片二維X射線檢測(cè)，識(shí)別葉片內(nèi)部夾雜缺陷。華中納米級(jí)工業(yè)CT

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—— 應(yīng)用：

測(cè)量

用X射線進(jìn)行的三維測(cè)量是***的可對(duì)復(fù)雜物體內(nèi)部進(jìn)行無(wú)損測(cè)量的技術(shù)。 通過(guò)與傳統(tǒng)的觸覺坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)的對(duì)比，對(duì)一個(gè)物體進(jìn)行計(jì)算機(jī)斷層掃描的同時(shí)可獲得所有的曲面點(diǎn) - 包括所有無(wú)法使用其他測(cè)量方法無(wú)損進(jìn)入的隱蔽形體，如底切。 v|tome|x s 有一個(gè)特殊的三維測(cè)量包，其中包含空間測(cè)量所需的所有工具，從校準(zhǔn)儀器到表面提取模塊,具有可能的***大精度，可再現(xiàn)且具有親和力. 除了二維壁厚測(cè)量，CT體數(shù)據(jù)可以快速方便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，例如，分析完成元件，以確保其符合所有的規(guī)定尺寸。

英華檢測(cè)（上海）有限公司總部位于上海市閔行區(qū)光中路331號(hào)A棟一層，是一家檢測(cè)設(shè)備、儀器儀表、機(jī)械設(shè)備、機(jī)電設(shè)備及其零部件、電子產(chǎn)品、五金交電、汽車配件的研發(fā)、制造、加工、銷售，工業(yè)設(shè)計(jì)，從事貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)，檢測(cè)服務(wù)，自有設(shè)備租賃，工業(yè)檢測(cè)設(shè)備的維修及安裝，會(huì)務(wù)服務(wù)，商務(wù)咨詢，從事計(jì)算機(jī)科技、檢測(cè)技術(shù)、汽車科技、勘探技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓。的公司。英華檢測(cè)作為檢測(cè)設(shè)備、儀器儀表、機(jī)械設(shè)備、機(jī)電設(shè)備及其零部件、電子產(chǎn)品、五金交電、汽車配件的研發(fā)、制造、加工、銷售，工業(yè)設(shè)計(jì)，從事貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)，檢測(cè)服務(wù)，自有設(shè)備租賃，工業(yè)檢測(cè)設(shè)備的維修及安裝，會(huì)務(wù)服務(wù)，商務(wù)咨詢，從事計(jì)算機(jī)科技、檢測(cè)技術(shù)、汽車科技、勘探技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓。的企業(yè)之一，為客戶提供良好的工業(yè)CT，工業(yè)CT檢測(cè)服務(wù)。英華檢測(cè)繼續(xù)堅(jiān)定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路，既要實(shí)現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長(zhǎng)，又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。英華檢測(cè)始終關(guān)注儀器儀表市場(chǎng)，以敏銳的市場(chǎng)洞察力，實(shí)現(xiàn)與客戶的成長(zhǎng)共贏。