因此設備需要一些特 定的補償。在一種極端情 況下,橋接在亮背景下呈 現黑色,而在另一種極端情況下,橋接在黑背景下卻是呈現出亮色。這里我們建議 使用無光澤的阻焊層。在我們的實踐中,焊盤間(甚至是 細間距引腳)的區域也應該覆蓋著阻焊層,這個建議也已 經被焊料供應商所響應。印刷圖案圖3所有印有圖案的PCB也是能夠被檢查的,例如,當元 器件的邊框或元器件本體上的字母單獨出現在組件的某個 區域從而干擾對其他部分的檢查時,可以手工調整檢查程 序。盡管如此,在生產允許的范圍內,圖案的印刷范圍仍 然有一個較大的選擇,因此,減少非反射性標識印刷(黑 或暗黃)值得加以考慮。先通過 檢查整板或已完成組裝的單板上的單個壞板標識來進行確 認。浦東新區生產AOI檢測性價比
基本優化每塊PCB可以采用光學或者X-ray技術并運用適當 的運算法則來進行檢查。基于圖像檢查的基本 原理是:每個具有明顯對比度的圖像都是可以 被檢查的。在AOI中存在的主要問題是,當一些檢查對象是 不可見的,或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來了。然而,實際經驗和系統化測試都表明,這 些影響是可以通過PCB的設計來預防甚至減少的。為了推 動這種優化設計,可以運用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領域被推崇浦東新區生產AOI檢測性價比對Xi(焊盤的內側間 距)的比率應選擇>1。
一個重要的因素是元器 件,這不僅與PCB上直接的器件布局有關,而且或多或少 也與“工藝流程設計”有關。元器件的采購趨勢是盡 可能地便宜,而不管它在顏色、尺寸等參數上的不同。不 幸的是,這些選擇在日后對AOI或AXI檢查過程中造成的影 響往往被忽略了。始終采用同樣的材料和產品能夠***地 減少檢查時間和誤報,而這些問題主要是通過元器件以及 PCB的突然變化而出現的。元器件尺寸IPC-7350標準描述了器件的尺寸,并對某些焊盤的尺 寸提出了建議。根據IPC標準,器件的長度和引腳的寬度可 以有一個較大變化范圍,相反,焊盤的尺寸卻是相對固定 的
這 些影響是可以通過PCB的設計來預防甚至減少的。為了推 動這種優化設計,可以運用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領域被推崇),它的優點包括:減少編程時間比較大限度地減少誤報? 改善失效檢查。制定設計方針,可以有效地簡化檢查和***地降低生 產成本。Viscom AG 和 KIRRON GmbH &Co KG 合作開發 出一項特殊測試方案,目的是為了從根本上研究和證明這 些設計在檢查中產生的效果。基于IPC-7350標準的PCB布 局被推薦為針對這些測試的基準。首先,為了探究每一種 布局的檢查效果,建議在大量PCB布局上采用這種基準; 之后,再有意地利用PCB錯誤布局,使得它產生一些工藝 中的缺陷,如立碑和引腳懸空等。布局建議板上每個單獨的壞板標識只有在整板的壞板標識檢查失敗后才會被逐一檢查。
使用檢查設備來監視生產過程。典型地包括詳細的缺陷分類和元件貼放偏移信息。當產品可靠性很重要、低混合度的大批量制造、和元件供應穩定時,制造商優先采用這個目標。這經常要求把檢查設備放置到生產線上的幾個位置,在線地監控具體生產狀況,并為生產工藝的調整提供必要的依據。當生產問題非常清楚、產品混合度高、數量和速度為關鍵因素的時候,優先采用這個目標。AOI通常放置在生產線**末端。在這個位置,設備可以產生范圍***的過程控制信息。“鷗翼”型引腳焊錫的側面爬升情況由于器件變化或 焊盤設計的原因,并不是經常能夠被檢查出來。浦東新區生產AOI檢測性價比
同樣的規則也適用于C-leads器件的 彎月型和器件本體兩側的焊盤設計。浦東新區生產AOI檢測性價比
每塊PCB可以采用光學或者X-ray技術并運用適當 的運算法則來進行檢查。基于圖像檢查的基本 原理是:每個具有明顯對比度的圖像都是可以 被檢查的。在AOI中存在的主要問題是,當一些檢查對象是 不可見的,或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來了。然而,實際經驗和系統化測試都表明,這 些影響是可以通過PCB的設計來預防甚至減少的。為了推 動這種優化設計,可以運用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領域被推崇),它的優點包括:減少編程時間比較大限度地減少誤報? 改善失效檢查。浦東新區生產AOI檢測性價比
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