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應力雙折射測量技術是基于光彈性原理發展起來的一種應力分析方法，特別適用于透明或半透明材料的應力檢測。當偏振光通過存在應力的材料時，會產生雙折...
偏光度測量是評估AR/VR光學系統成像質量的重要指標。相位差測量儀采用穆勒矩陣橢偏技術，可以分析光學模組的偏振特性。這種測試對Pancake...
成像應力檢測設備通過將應力分布可視化，極大提升了檢測效率和結果判讀的直觀性。這類設備通常基于光彈性或數字圖像相關技術，能夠實時捕捉樣品表面的...
成像式應力儀的未來發展將更加注重多功能集成和智能化應用。新一代設備開始融合多種檢測模式，如將應力檢測與尺寸測量、表面缺陷檢測等功能集成于一體...
千宇光學專注于偏振光學應用、光學解析、光電探測器和光學檢測儀器的研發與制造。事業涵蓋光電材料、光學顯示、半導體、薄膜透鏡、印刷涂料等行業。 產品覆蓋LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光學測試需求，并于國內率先研發相位差測試儀打破國外設備壟斷，目前已廣泛應用于全國光學頭部品牌及其制造商。 千宇光學研發中心由光學博士團隊組成，掌握自主研發的光學檢測技術, 測試結果可溯源至國家計量標準。千宇以提供高價值產品及服務為發展原動力， 通過持續輸出高速度、高精度、高穩定的光學檢測技術，優化產品品質，成為精密光學產業有價值的合作伙伴。
