原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的、主要有以下3種操作模式：接觸模式（contactmode)，非接觸模式（no...

二極管激光器（Laser Diode）發出的激光束經過光學系統聚焦在微懸臂（Cantilever）背面，并從微懸臂背面反射到由光電二極管...

原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM），通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間...

原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測...