提供可靠性測試整體解決方案：可靠性設備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項可靠性測試方案制定，PCB設計制作，測試試驗，滿足各類芯...

閃存HTOL測試方法與流程本發明涉及半導體制造領域，尤其涉及一種閃存htol測試方法。背景技術：閃存(flashmemory)是一種非易失性...

第二時間點讀點、第三時間點讀點至第n時間點讀點。在每個時間點讀點過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經由...

自主研發在線實時單顆監測技術，通過監測數據，可實時發現問題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節省更多時間、FA成本，讓HTOL問題更容易分析...