廣西在線式光電測試系統

NVS夜視設備多功能測試系統是一個模塊化的測試系統，可測試長程夜視瞄準設備，同時支持測試短程夜視鏡及雙目夜視鏡。因此NVS測試系統是一個多功能測試系統。NVS測試系統采用模塊化設計，包括一組可切換的透射式光管、可移動的光源和一組靶標等模塊。NVS測試系統的測試過程是基于MIL系列標準的建議。NVS測量系統投影一個標準靶標的圖像到水平固定的被測夜視儀。通過調節兩個旋鈕，操作者可以控制透射到被測量夜視儀光的強度和靶標的類型。被測量器件生成一個畸變的標準靶標的圖像。通過人眼觀察或者借助測量工具如亮度計來評估這個畸變的圖像，得到被測量器件的重要參數。明策精細光電技術，保障光伏產業高效能測試。廣西在線式光電測試系統

OPO測試系統為計算機化的系統，用于對被測望遠瞄準系統生成的參考圖像進行分析。OPO測試系統由以下模塊組成:TG-OP目標發生器，CTG控制器，一組靶標，一組圓孔，CPO10100投射式平行光管，MP-A機械平臺，MP-B機械平臺，MP-C平臺，DPM66屈光度計，計算機，圖像采集卡，一組孔徑調節器以及TOPO測試軟件。

產品參數如下

表1被測光學系統范圍

參數：數值

入射口徑范圍：10-60mm

出射口徑范圍：2-60mm

放大率范圍：-30x

表2測試調節范圍

參數：數值

模擬距離50m,100m,200m,250m,300m,400m,600m,∞

離軸角范圍：0°-30°

云南光電測試系統性能特點光電技術助力珠寶首飾，精確鑒定品質。

一系列不同的輻射源可以用在投影系統中（光譜范圍擴展到SWIR的光源或者MTB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統中的靶標也可用于測量。測量成像整機系統軸校準：電控的測試系統生成由被測試熱像儀及相機生成的圖像并計算兩者之間的角度：a)熱像儀在不同視場下的光軸；b)相機在不同鏡頭放大率下的光軸；c)熱像儀與相機之間的光軸。激光系統軸對準：計算機控制的測量系統分析激光系統在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角：激光光軸（激光測距儀，激光指示器，激光照射器等）相對于成像系統光軸。注意：MS系統可以進行激光測距儀發射光軸的校準。這里假定激光測距儀發射光軸與接收已經調整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統軸的能力。測量SWIR相機：SIWR投影系統與圖像分析計算機系統相結合來測量SIWR相機。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標；測量不同圖像格式的熱像儀：當采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時；也可以選擇數字圖像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測量高分辨率高幀頻的數字輸出傳感器。

MS系列系統是Inframet主要測試系統，可測量多種紅外整機系統：熱像儀，可見光-近紅外相機，短波紅外相機、激光測距機和多傳感器測試系統等，進行系統測試和軸對準的測試。測試功能1.不同視場適用波段：可見光，近紅外，短波紅外，中波紅外和長波紅外；2.可測量多種紅外整機系統：熱像儀，可見光-近紅外相機，短波紅外相機、激光測距機和多傳感器測試系統等；

MS多波段整機測試系統測量不同系統的原理如下。測試熱像儀：圖像投影儀投射圖像到中波/長波范圍熱像儀，由計算機系統生成的圖像分析被檢測熱像儀。高精度的離軸反射式CDT平行光管，TCB差分黑體，以及一組紅外靶標用于投影。測試可見光/NIR相機：可見光/NIR投影系統與圖像分析計算機系統相結合來測量電視相機。包括CDT反射式平行光管，可見光/NIR光源，和一組可見光靶標； 光電精確測量，保障醫療器械精確操作。

MTB系列黑體是精密的面源黑體，旨在模擬中溫目標。使用一個薄的面加熱元件來控制散熱器溫度。黑體散熱器的***溫度可以調節在約50攝氏度到550攝氏度之間。發射器面積可以從50x50mm到500x500mm，具體取決于型號。應用MTB黑體可用于一系列可能的應用：1、在中溫范圍內測量熱像儀的精度（已知溫度的面源）。2、監控系統SWIR成像儀3、用于測試SWIR/MWIRFPAs的系統

至高溫度：典型的至高溫度為550℃。如果不需要這樣的溫度，則最高溫度可以降低到350℃，并且提供更好的熱均勻性。 光電精細測試，助力智能建筑節能減排。云南光電測試系統性能特點

Inframet NVS 夜視設備多功能測試 系統，助力航空航天器熱防護系統測試。廣西在線式光電測試系統

MAB黑體是在整個太赫茲和亞太赫茲頻譜帶中商用的并且具有高發射率的大面積寬帶黑體。此黑體已經由Inframet研究團隊進行了幾年的實驗研究。

主要特性

寬泛的頻譜范圍涵蓋了THz和亞THz頻帶；大面積高達1mx1m；Thz/亞THz波段的高發射率；大面積輻射面上具有良好的熱均勻性；高溫度分辨率1mK和溫度穩定性10mK；高速，易于PC控制；緊湊可靠的設計（黑體與控制器集成）。

在國際市場提供的典型面源黑體（包括Inframet提供的TCB/MTB黑體）被優化，以模擬在常用的紅外輻射光譜帶中的黑體目標：約1μm至約15μm。 這種黑體的發射面的高發射率是通過溫度受控的金屬板，與其涂覆的高吸收性涂料薄層來實現。 廣西在線式光電測試系統