多光斑光斑分析儀優勢 光束質量 深圳市維度科技股份供應

發貨地點:廣東省深圳市

發布時間:2025-04-24

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相機式與狹縫式光斑分析儀對比指南 光斑分析儀的選擇需基于應用場景的光斑尺寸、功率、脈沖特性及形態復雜度: 1. 光斑尺寸 相機式:受限于 sensor 尺寸(≤10mm),小光斑為 55μm(10 倍 5.5μm 像元)。 狹縫式:刀口模式可測小 2.5μm 光斑,適合亞微米級檢測。 2. 功率范圍 相機式: 6 片衰減片(BeamHere 標配),可測 1W,需控制功率 < 10μW/cm。 狹縫式:狹縫物理衰減機制支持近 10W 直接測量,無需外置衰減片。 3. 脈沖激光 相機式:觸發模式同步捕獲完整單脈沖光斑,兼容性強。 狹縫式:需匹配掃描頻率與激光重頻,易丟失脈沖信息。 4. 光斑形態 相機式:面陣傳感器保留非高斯光束(如貝塞爾光束)及高階橫模細節。 狹縫式:狹縫累加導致復雜光斑失真,適合高斯或規則光斑。 選擇建議 狹縫式:亞微米光斑、高功率或高斯光斑檢測。 相機式:大光斑、脈沖激光或復雜非高斯光束分析。 維度光電 BeamHere 系列提供兩種技術方案,適配實驗室與工業場景的全場景需求。如何評判激光質量的好壞?多光斑光斑分析儀優勢

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全系列產品矩陣與智能分析系統 Dimension-Labs BeamHere 系列產品通過全光譜覆蓋與模塊化設計,構建起完整的光束質量測量生態系統: 1. 全場景產品體系 光譜覆蓋:190-2700nm 超寬響應范圍,滿足紫外到遠紅外波段的測試需求 技術方案: 掃描狹縫式:支持 2.5μm-10mm 光斑檢測,0.1μm 超高分辨率,可測近 10W 高功率激光,適合半導體加工、高功率焊接等場景 相機式:400-1700nm 實時成像,5.5μm 像元精度,標配 6 片濾光片轉輪實現 1μW-1W 寬功率測量,擅長復雜光斑分析與脈沖激光檢測 結構創新:掃描狹縫式采用 ±90° 轉筒調節與可調光闌設計,相機式支持濾光片轉輪與相機分離,拓展科研成像功能 2. M 因子測試模塊 兼容全系產品,基于 ISO 11146 標準算法實現光束質量參數測量 可獲取: 光束發散角(mrad) 束腰位置(mm) M 因子(無量綱) 瑞利長度(mm) 支持光束傳播方向上的全鏈路分析,為激光系統設計提供數據激光發散角光斑分析儀性能光束質量M2怎么測量?

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維度光電BeamHere 光斑分析儀系列,提供全場景激光光束質量分析解決方案。產品覆蓋 190-2700nm 光譜,包括掃描狹縫式和相機式技術,實現亞微米至毫米級光斑測量。掃描狹縫式支持 2.5μm-10mm 光斑檢測,具備 0.1μm 分辨率,適用于高功率激光。相機式提供 400-1700nm 響應,實現 2D/3D 成像分析,測量功率范圍 1μW-1W。M 因子測試模塊基于 ISO 11146 標準,評估光束質量。軟件提供自動化分析和標準化報告。技術創新包括正交狹縫轉動輪結構和適應復雜光斑的面陣傳感器。產品適用于光束整形檢驗、光鑷系統檢測和準直監測。結構設計優化,通過 CE/FCC 認證,應用于多個領域,助力光束質量分析和工藝優化。

維度光電BeamHere 光斑分析儀選型指南: 1. 光束特性分析 光斑尺寸:亞微米用狹縫式(2.5μm 精度),毫米級用相機式(10mm 量程)。 功率等級:高功率用狹縫式(近 10W),微瓦級用相機式(適配衰減片)。 光束形態:高斯用狹縫式(經濟),非高斯用相機式(保留細節)。 脈沖特性:單脈沖用相機式(觸發同步),連續/高頻用狹縫式(匹配掃描頻率)。 2. 應用場景適配 工業:高功率用狹縫式,動態監測與校準用相機式,組合方案覆蓋全流程。 醫療:相機式監測能量分布,脈沖激光適配觸發模式確保精度。 科研:超短脈沖與復雜光束分析用相機式,材料加工優化結合狹縫式。 光通信:光纖檢測用相機式,激光器表征用狹縫式高靈敏度測量。 3. 功能擴展規劃 單一需求:以光斑尺寸與功率為,如高功率 + 亞微米光斑選狹縫式。 復雜場景:雙技術組合(狹縫式 + 相機式),實現全場景覆蓋。 長期規劃:科研機構選全功能模塊(M 因子測試、皮秒同步),工業用戶選基礎款 + 定制接口。脈沖激光光束質量怎么測檢測?維度光電,超快激光器研發利器。

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維度光電光束質量測量解決方案基于兩大技術平臺: 掃描狹縫式系統:采用正交狹縫轉動輪結構,通過 ±90° 旋轉實現 XY 軸同步掃描,結合刀口 / 狹縫雙模式切換,突破亞微米級光斑檢測極限。光學系統集成高靈敏度光電探測器,配合高斯擬合算法,實現 0.1μm 分辨率與 ±0.8% 測量重復性。 相機式成像系統:搭載背照式 CMOS 傳感器(量子效率 95%@500-1000nm),結合非球面透鏡組消除畸變,支持皮秒級觸發同步與全局快門技術,捕捉單脈沖光斑形態。算法通過二階矩法計算 M 因子,測量精度達 ±0.3%。 創新突破: 狹縫物理衰減機制實現 10W 級激光直接測量 面陣傳感器動態范圍擴展技術支持 1μW-1W 寬功率檢測 AI 缺陷診斷模型自動識別光斑異常(率 97.2%)無干涉條紋的光斑質量分析儀。國產光斑分析儀光斑測試

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維度光電國產光束質量分析解決方案破局之路 國內激光光束質量分析市場長期被歐美品牌壟斷,存在三大痛點:產品型號單一(無法兼顧亞微米光斑與高功率檢測)、定制周期漫長(3-6 個月周期)、服務響應滯后(返廠維修影響生產 35 天 / 次)。 全場景產品矩陣 狹縫式:0.1μm 分辨率,直接測 10W 激光,支持 ±90° 任意角度掃描,滿足半導體加工等亞微米級需求 相機式:5.5μm 像元精度,6 片濾光片轉輪實現 1μW-1W 寬功率檢測,擅長復雜光斑分析 定制化服務:12 項定制選項(波長擴展、自動化接口等),短交付周期 5 天 未來將聚焦多模態光束分析與智能化診斷,為智能制造、醫療科技等提供技術支撐。多光斑光斑分析儀優勢

 

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