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品致差分探頭—為工業高壓,精密電路測試提供解決方案

來源: 發布時間:2025-04-27

PINTECH品致差分探頭是電子測試領域中用于測量差分信號的關鍵工具,具備高精度、高帶寬、強抗干擾能力及靈活適配性等特點,為工程師在復雜電磁環境與高壓測試場景中提供了可靠解決方案。應用于電源設計、電機驅動、新能源、通信等場景。



有源差分探頭DP-210,100MHz頻寬、±1300Vp-p輸入電壓、3.5ns上升時間,精度2%,應用于高速信號完整性測試、電力電子設備高壓信號分析等。



有源差分探頭DP-50,頻率50MHZ,輸入電壓高達7000Vp-p、輸入直流電壓3500V,X100/X200/X500/X1000衰減比、精度2%,分離式設計。應用于特高壓電力設備測試、工業高壓系統故障診斷。



有源差分探頭DP-30HS,30MHz頻寬、65Vp-p輸入電壓、X1/X2/X10衰減比,精度2%。應用于精密電子電路調試、低電壓信號微弱變化捕捉。




高精度與低噪聲,精度誤差≤±2%(熱機20分鐘后),確保測量結果的可靠性。噪聲抑制技術,降低本底噪聲,提升微弱信號檢測能力。

靈活適配與操作,BNC接口兼容主流示波器,支持即插即用。可切換頻寬,適配不同測試需求,避免高頻干擾。

安全與可靠性,輸入端及接地端最高電壓達919Vrms,保障高壓測試安全性。外接5V DC電源設計,避免內部電池損耗,延長設備壽命。



選型建議,明確測試需求

高頻信號測試:優先選擇高帶寬型號(如DP-210)。

高壓場景:選擇高輸入電壓與衰減比型號(如DP-50)。

精密測量:關注低噪聲與高CMRR型號(如DP-30HS)。



PINTECH品致差分探頭DP系列探頭重量普遍在250g至290g之間,體積緊湊,適合現場調試;若需更輕量化方案,可關注PINTECH品致其他便攜型號。



PINTECH品致差分探頭憑借其高精度、寬動態范圍、強抗干擾及靈活適配性,為工程師在提供了可靠的解決方案。無論是高速信號的毫秒級瞬態捕捉、工業高壓系統的安全診斷,還是精密電路的微伏級信號分析,DP系列均能通過多型號梯度配置精確匹配需求。其輕量化設計與即插即用特性更兼顧了實驗室與現場測試的效率,同時外接電源與分離式架構進一步提升了設備穩定性與使用壽命。未來,隨著新能源、5G通信及第三代半導體等領域的快速發展,差分探頭將持續以技術創新賦能高可靠性測試,成為工程師攻克技術瓶頸的“得力助手”。

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