元器件的采購趨勢是盡 可能地便宜,而不管它在顏色、尺寸等參數上的不同。不 幸的是,這些選擇在日后對AOI或AXI檢查過程中造成的影 響往往被忽略了。始終采用同樣的材料和產品能夠***地 減少檢查時間和誤報,而這些問題主要是通過元器件以及 PCB的突然變化而出現的。元器件尺寸IPC-7350標準描述了器件的尺寸,并對某些焊盤的尺 寸提出了建議。根據IPC標準,器件的長度和引腳的寬度可 以有一尺寸等參數上的不同。不 幸的是,這些選擇在日后對AO同樣的規則也適用于C-leads器件的 彎月型和器件本體兩側的焊盤設計。鹽城質量AOI檢測包括哪些
并對某些焊盤的尺 寸提出了建議。根據IPC標準,器件的長度和引腳的寬度可 以有一個較大變化范圍,相反,焊盤的尺寸卻是相對固定 的。此外,PCB制造公差的影響相對于這些器件的變化來說 也是是很小的。PCB的顏色和阻焊通常,設備能夠檢查 出所有不同單板的顏色, 盡管檢查中的某些細節處 理是不倚賴于顏色的。例 如, 一塊白色和一塊綠 色的PCB有著不同的對比 度,因此設備需要一些特 定的補償。在一種極端情 況下,橋接在亮背景下呈 現黑色,而在另一種極端情況下,橋接在黑背景下卻是呈現出亮色。這里我們建議 使用無光澤的阻焊層。在我們的實踐中,焊盤間(甚至是 細間距引腳)的區域也應該覆蓋著阻焊層,這個建議也已 經被焊料供應商所響應。鹽城質量AOI檢測包括哪些應用十字型作為基準點或者用 阻焊層覆蓋基準點。
基本優化每塊PCB可以采用光學或者X-ray技術并運用適當 的運算法則來進行檢查。基于圖像檢查的基本 原理是:每個具有明顯對比度的圖像都是可以 被檢查的。在AOI中存在的主要問題是,當一些檢查對象是 不可見的,或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來了。然而,實際經驗和系統化測試都表明,這 些影響是可以通過PCB的設計來預防甚至減少的。為了推 動這種優化設計,可以運用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領域被推崇
Viscom AG 和 KIRRON GmbH &Co KG 合作開發 出一項特殊測試方案,目的是為了從根本上研究和證明這 些設計在檢查中產生的效果。基于IPC-7350標準的PCB布 局被推薦為針對這些測試的基準。首先,為了探究每一種 布局的檢查效果,建議在大量PCB布局上采用這種基準; 之后,再有意地利用PCB錯誤布局,使得它產生一些工藝 中的缺陷,如立碑和引腳懸空等。這 些影響是可以通過PCB的設計來預防甚至減少的。為了推 動這種優化設計,可以運用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領域被推崇),它的優點包括:這是由于 焊錫的爬升方向必須用同引腳方向垂直的角度去檢查。假 如爬升很小。
很多廠家都推出了AOI測試設備。當自動檢測時,機器通過攝像頭自動掃描PCB,采集圖像,測試的焊點與數據庫中的合格的參數進行比較,經過圖像處理,檢查出PCB上缺陷,并通過顯示器或自動標志把缺陷顯示/標示出來,供維修人員修整。運用高速高精度視覺處理技術自動檢測PCB板上各種不同貼裝錯誤及焊接缺陷。PCB板的范圍可從細間距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在線檢測方案,以提高生產效率,及焊接質量。通過使用AOI作為減少缺陷的工具,在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤,以實現良好的過程控制。早期發現缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板。因此,在檢查時算法上必須要包含這些變化。在波峰焊 中,典型的缺陷是短路和焊珠。鹽城質量AOI檢測包括哪些
c對 Xi的比率稍微大于1.5。c對 Xi的比率稍微大于1.5。鹽城質量AOI檢測包括哪些
焊盤之間的焊錫橋。在ICT上,相對這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴重性成比例。輕微的少錫很少導致缺陷,而嚴重的情況,如根本無錫,幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點開路的一個原因。盡管如此,決定哪里放置AOI需要認識到元件丟失可能是其它原因下發生的,這些原因必須放在檢查計劃內。這個位置的檢查**直接地支持過程跟蹤和特征化。這個階段的定量過程控制數據包括,印刷偏移和焊錫量信息,而有關印刷焊錫的定性信息也會產生。回流焊前鹽城質量AOI檢測包括哪些
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