浙江電學溫控探針臺廠商

來源: 發布時間:2024-02-20

探針臺是晶圓輸送與定位任務的承擔者,檢測半導體芯片電、光參數的關鍵設備。CP 測試環節中,探針臺首先將晶圓移動至晶圓相機下,確定晶圓的坐標位置;再將探針相機 移動至探針卡下,確定探針卡的坐標位置,當確定二者位置后,即通過載片臺將晶圓移動 至探針卡下實現對針。其按不同功能可以分為高/低溫探針臺、RF 探針臺、LCD &TEG探針臺、光電探針臺等,當晶圓依次與探針接觸完成測試后,探針臺記錄參數特性不符合要求的芯片, 并在進入后序工序前予以剔除,以保障質量與可靠性,降低器件的制造成本。探針臺是人類探索宇宙的一個重要基石。浙江電學溫控探針臺廠商

探針臺,是我們半導體實驗室電學性能測試的常用設備,也是各大實驗室以及芯片設計、封裝測試的熟客。設備具備各項優勢,高性能低成本,用途廣,操作方便,在不同測試環境下,測試結果穩定,客觀,深受工程師們的青睞。探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的 CP 測試環節,負責晶圓的輸送與定位,確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩定的信號,使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個測試,實現更加精確的數據測試測量。半導體測試設備主要包括測試機、探針臺和分選機。在所有的測試環節中都會用到測試機,不同環節中測試機需要和分選機或探針臺配合使用。安徽真空溫控探針臺廠家直銷探針臺具有規模化、系統性、戰略性和國際性等特點,是人類探索宇宙的中心樞紐。

探針臺由哪些部分組成?樣品臺(載物臺):是定位晶圓或芯片的部件設備。通常會根據晶圓的尺寸來設計大小,并配套了相應的精密移動定位功能。光學元件:這個部件的作用使得用戶能夠從視覺上放大觀察待測物,以便精確地將探針先進對準并放置在待測晶圓/芯片的測量點上。有的采用立體變焦顯微鏡,有的采用數碼相機,或者兩者兼有。探針(探針卡):待測芯片需要測試探針的連接,才能與測試儀器建立連接。常見的有普通 DC 測試探針、同軸DC測試探針、有源探針和微波探針等。探針頭插入單個探針臂并安裝在操縱器上。探針先進尺寸和材料取決于被探測特征的尺寸和所需的測量類型。探針尖直接接觸被測件,探針臂應與探針尖匹配。

真空腔體密封技術,真空腔體密封技術是真空探針的關鍵部分, 真空腔體密封一旦在設計和加工過程中出現設計 缺陷、密封效果不好等問題,就會產生氣體泄漏, 對操作人員造成人身傷害、甚至對大氣環境造成 污染,這些問題在后期將無法彌補,在腔體裝配前 要進行預裝試驗,防止類似事件發生。真空腔體采用圓形桶狀,下端面與工作平臺 緊密結合,上端面端蓋可拆卸。選用不銹鋼材料鍛 造后一體加工。加工過程中合理進行材料熱處理,減少加工變形。探針臺建設需要綜合考慮技術、人力、資金等眾多因素。

探針、探針夾具及電纜組件。(1)探針。待測點需要測試探針的連接,才能與測試儀器發生交流。常見的有:普通DC測試探針、同軸DC測試探針、有源探針和微波探針。(2)探針夾具及電纜組件。探針夾具用于夾持探針、并將探針連接至測量儀器。電纜組件用于轉接、延展探針夾具上的電纜組件。根據測量應用,可粗略地劃分為以下幾種:I-V/CV測試用、RF測試用、高壓大電流I-V/C-V測試用等。主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺,探針臺可吸附多種規格芯片,并提供多個可調測試針以及探針座,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測。適用于對材料、芯片等進行科研實驗分析,抽查測試等用途。探針臺的科研成果對探索宇宙、維護人類福祉和生存環境有著重要的促進作用。12寸探針臺生產廠家

探針臺是專門為探索宇宙而設計的機構之一。浙江電學溫控探針臺廠商

半自動型,chuck尺寸800mm/600mm;X,Y電動移動行程200mm/150mm;chuck粗調升降9mm,微調升降16mm;可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡;針座擺放個數6~8顆;顯微鏡X-Y-Z移動范圍2"x2"x2";可搭配Probe card測試;適用領域:8寸/6寸Wafer、IC測試之產品;電動型;chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不銹鋼或鍍金);X,Y電動移動行程300mm x 300mm;chuck粗調升降9mm,微調升降16mm,微調精度土1u;可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實體顯微鏡。浙江電學溫控探針臺廠商

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