下面對本發明的優點或原理進行說明：使用本發明的芯片測試機進行芯片測試時，首先在自動上料裝置上放置多個tray盤，每一個tray盤上均放滿或放置多個待測試芯片，同時在自動下料裝置和不良品放置臺上分別放置空的tray盤。測試機啟動后，由移載裝置從自動上料裝置的tray盤中吸取待測試芯片移載至測試裝置進行測試，芯片測試完成后，移載裝置將測試合格的芯片移載至自動下料裝置的空tray盤中，將不良品移載至不良品放置臺的空tray盤中放置。當自動上料裝置的一個tray盤中的芯片全部完成測試，且自動下料裝置的空tray盤中全部裝滿測試后的芯片后，移載裝置將自動上料裝置的空tray盤移載至自動下料裝置。本發明的芯片測試機的結構緊湊，體積較小，占地面積只為一平米左右，可滿足小批量的芯片測試需求。芯片測試機支持多種測試模式。南京芯片測試機廠家
本發明在另一實施例中公開一種芯片測試機的測試方法。該測試方法包括以下步驟：將多個待測試芯片放置于多個tray盤中，每一個tray盤中放置多個待測試芯片，將多個tray盤放置于自動上料裝置，并在自動下料裝置及不良品放置臺上分別放置一個空tray盤；移載裝置從自動上料裝置的tray盤中取出待測試芯片移載至測試裝置進行測試；芯片測試完成后，移載裝置將測試合格的芯片移載至自動下料裝置的空tray盤中，將不良品移載至不良品放置臺的空tray盤中；當自動上料裝置的一個tray盤中的待測試芯片全部完成測試，且自動下料裝置的空tray盤中放滿測試合格的芯片后，移載裝置將自動上料裝置的空tray盤移載至自動下料裝置。南京芯片測試機廠家芯片測試機可以進行DC和AC測試，以檢測芯片的電性能。
在本發明的描述中，需要理解的是，術語“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“中”、“內”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，只是為了便于描述本發明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本發明的限制。此外，術語“頭一”、“第二”等只用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術特征的數量。由此，限定有“頭一”、“第二”等的特征可以明示或者隱含地包括一個或者更多個該特征。在本發明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規定和限定，術語“安裝”、“相連”、“連接”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內部的連通。對于本領域的普通技術人員而言，可以通過具體情況理解上述術語在本發明中的具體含義。
芯片測試座是一種電子元器件，它是用來測試集成電路芯片的設備，它可以用來測試和檢查電路芯片的性能，以確保其達到規定的標準。芯片測試座的基本結構包括主體機架、測試頭、測試模塊、放大器和控制器等部件組成。 芯片測試座一般用于測試電路芯片的性能，包括電源參數、噪聲性能、抗干擾性能、靜態特性和動態特性等。通常，芯片測試座由多個測試頭組成，每個測試頭可以提供不同的測試功能。芯片測試座的工作原理是，通過測試頭將測試信號輸入到芯片，然后將芯片的輸出結果和規定的標準進行對比。芯片測試機可以測試芯片的信號幅度和靈敏度。
封裝之后，設備在晶圓探通中使用的相同或相似的ATE上進行終檢。測試成本可以達到低成本產品的制造成本的25%，但是對于低產出，大型和/或高成本的設備，可以忽略不計。晶圓的成分是硅，硅是由石英沙所精練出來的，晶圓便是硅元素加以純化（99.999%），接著是將這些純硅制成硅晶棒，成為制造集成電路的石英半導體的材料，將其切片就是芯片制作具體所需要的晶圓。晶圓越薄，生產的成本越低，但對工藝就要求的越高。芯片的工作環境要求有良好的散熱性，不帶散熱器并且大功率工作的情況只能加速芯片的報廢。芯片其實很靈活，當其內部有部分損壞時，可以加接外部小型元器件來代替這已經損壞的部分，加接時要注意接線的合理性，以防造成寄生耦合。芯片測試機提供了可靠的測試跟蹤，幫助工程師快速定位測試問題。南京芯片測試機廠家
芯片測試機可以檢測到芯片中的誤差。南京芯片測試機廠家
芯片在測試過程中，會有不良品出現，不良品會被放置到不良品放置臺60，從而導致自動上料裝置40上的一個tray盤全部測試完成后，而自動下料裝置50的tray盤中沒有放滿芯片。如圖1所示，為了保障自動下料裝置50的tray盤中放滿芯片后，自動上料裝置40的tray盤才移動至自動下料裝置50，本實施例在機架10上還設置有中轉裝置60。中轉裝置60位于自動上料裝置40及自動下料裝置50的一側。如圖5所示，中轉裝置60包括氣缸墊塊61、中轉旋轉氣缸62及tray盤中轉臺63，其中，氣缸墊塊61固定于支撐板12上，中轉旋轉氣缸62固定于氣缸墊塊61上，tray盤中轉臺63與中轉旋轉氣缸62相連，中轉旋轉氣缸62可以帶動tray盤中轉臺63旋轉。南京芯片測試機廠家