重慶納米粒度分析儀

激光檢測器同時檢測顆粒對光的散射程度，根據米氏散射理論，得出不同尺寸顆粒的相對含量，從而得到顆粒粒徑的分布曲線。主要參數：測量范圍：0.005-75μm，光源：405nmLED，旋轉速度：12.000RPM、18.000RPM、24.000RPM，標準分析圓盤：CR-39聚合物（耐有機溶劑和水溶液），可選 配：低密度樣品分析擴展、變速圓盤；自動密度梯度液生成器（型號AG300）；自動進樣器（型號AS200）；標定用標準顆粒。半導體CMP用拋光墊、清洗液、修整盤、拋光液、納米研磨粒子以及OLED顯示光敏聚酰亞胺、封裝墨水、低溫光阻材料等20余款“卡脖子”材料。我公司生產的產品、設備用途非常多。重慶納米粒度分析儀

對于粒徑分布范圍很寬的樣品，通過可選的速度調節功能圓盤，只需常規圓盤分析時間的1/20。經過CPS納米粒度儀對裂解后炭黑進行粒徑測試后的結果所示：與掃描電鏡所顯示的結果基本一致，裂解后的炭黑較小粒徑為3um，較大可至50多微米，并且出現很多峰值，證明樣液中具有不同粒徑且含量不同的的炭黑。峰值粒徑處于30um左右。真實反映了不同炭黑粒徑的分布狀態。隨著半導體工業飛速發展，電子器件尺寸縮小，要求晶片表面平整度達到納米級。作為芯片制造不可或缺的一環，CMP工藝在設備和材料領域歷來是受歡迎的。四川納米粒度分析儀價格馳光機電科技設備的引進更加豐富了公司的設備品種，為用戶提供了更多的選擇空間。

CPS分析儀基本原理：CPS納米粒度分析儀依據Stokes定律，V=D2(ρP-ρF)G/18η，即顆粒沉降的速度與顆粒的尺寸平方成正比來進行粒度的測量。待測樣品從圓盤中心進入高速旋轉的圓盤，在離心力的作用下發生沉降，沉降的速度遵循Stokes公式，在距離圓盤的邊緣固定位置設有激光檢測器，顆粒按尺寸大小依次通過探測器，儀器記錄顆粒通過探測器的時間，由于所有顆粒走過的路程都一樣，因此，顆粒運動所需的時間與顆粒本身尺寸的平方成反比，激光檢測器同時檢測顆粒對光的散射程度。

為了提高粒徑的測量精度，需要較高的圓盤轉速，目前市面上常見的運行速度較高在15000RPM，而國內在1500RPM，無法滿足CPM化學機械拋光的需求。CPS-24000納米粒度儀的最高轉速為24000轉，測試范圍在5nm-75um，每次加樣只需要0.1ml，降低樣液的測試成本，可連續測量多達40個樣品。CPS納米粒度分析儀的使用方法已經列入國標，包括《金屬粉末粒度分布的測量-重力沉淀光透法》、《煤礦粉塵粒度分布測定方法》、《橡膠配合劑-炭黑-聚集體尺寸的測定-使用光跟蹤盤式離心沉淀儀法》等。馳光機電是多層次的團體與管理模式。

能夠允許用戶為不同樣品設置標準測量方法SOP，并且可以對SOP進行編輯和保存。EyeTech 是一個模塊化的系統，可以選配10種不同的測量池。更換測量池簡便快速，儀器便于分析各種顆粒，如液相、乳化液、干粉、纖維、磁粉、加熱的液體和氣溶膠等。這些測量池模塊都是配合不同的分析方法而開發的，確保能夠根據樣品的特性來測量。纖維測量池：ACM-104L，氣溶膠測量池ACM-106，微流量測量池ACM-108，載玻片測量池ACM-110，加熱測量池ACM-111，自由落體測量池ACM-112。在每一次分析過程中，激光光束與顆粒之間發生了上百萬次的交互作用。馳光機電科技以發展求壯大，就一定會贏得更好的明天。吉林病毒顆粒分析儀哪家好

馳光機電科技以創百年企業、樹百年品牌為使命，傾力為客戶創造更大利益！重慶納米粒度分析儀

為了實現較佳過程控制，樣品測量時間為5分鐘左右。催化劑濃度通常在40至1000ppm范圍內。C-Quand在線XRF分析儀是一款真正的過程分析儀，專為化工廠的惡劣環境而設計。分析儀配置和操作簡單。它配有模擬和串行數據傳輸協議。C-Quand在線 XRF分析儀可以連續測量多達四個流路，每個流都有自己的校準曲線。此外，C-Quand在線XRF分析儀有各種方法來檢查和確保可靠的數據。每小時分析一次內置的固體參考。有了這個內置的自動參考，您將能夠在一年內實現無漂移過程測量。重慶納米粒度分析儀