熱門(mén)標(biāo)簽
眼圖測(cè)試
信號(hào)完整性測(cè)試
USB測(cè)試
DDR測(cè)試
HDMI測(cè)試
電子產(chǎn)品測(cè)試
高速信號(hào)傳輸
電路板測(cè)試
電氣性能測(cè)試
電氣完整性
數(shù)字信號(hào)測(cè)試
高速電路測(cè)試
PCI-E測(cè)試
以太網(wǎng)測(cè)試
MIPI測(cè)試
眼圖測(cè)量
DDR一致性測(cè)試
信號(hào)完整性分析
DP測(cè)試
SATA測(cè)試
USB2.0測(cè)試
USB3.0測(cè)試
DDR3測(cè)試
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LPDDR3測(cè)試
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USB物理層測(cè)試
DDR4測(cè)試方案
電氣測(cè)試
SATA3測(cè)試
DDR5測(cè)試
PCIE3.0測(cè)試TX
以太網(wǎng)100M測(cè)試
以太網(wǎng)1000M物理層測(cè)試
LVDS發(fā)射端一致性測(cè)試
EMMC測(cè)試
RJ45網(wǎng)口測(cè)試
EMMC一致性測(cè)試
PCIE3.0TX一致性測(cè)試
雷電4測(cè)試
eDP信號(hào)完整性測(cè)試
eDP眼圖測(cè)試
LVDS物理層信號(hào)完整性測(cè)試
LPDDR4信號(hào)完整性測(cè)試
克勞德LPDDR4眼圖測(cè)試
MIPID-PHY測(cè)試
熱搜詞
工業(yè)機(jī)器人維護(hù)保養(yǎng)教學(xué)工作站
智能物流倉(cāng)儲(chǔ)自動(dòng)化實(shí)訓(xùn)平臺(tái)
智能裝配機(jī)實(shí)訓(xùn)平臺(tái)系統(tǒng)
自動(dòng)化智能機(jī)器人實(shí)驗(yàn)臺(tái)
工業(yè)機(jī)器人上下料教學(xué)實(shí)訓(xùn)平臺(tái)
機(jī)器人焊接工作站實(shí)訓(xùn)平臺(tái)
虛實(shí)結(jié)合智能產(chǎn)線實(shí)訓(xùn)裝置
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工業(yè)機(jī)器人技能考核實(shí)訓(xùn)臺(tái)
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重慶設(shè)備USB測(cè)試第二項(xiàng)測(cè)試是發(fā)射機(jī)均衡測(cè)試，這項(xiàng)測(cè)試也與USB4預(yù)置值有關(guān)。這項(xiàng)測(cè)試的目標(biāo)，是確保發(fā)射機(jī)均衡落在規(guī)范的極限范圍內(nèi)。新USB4方法要求每個(gè)預(yù)置值3個(gè)波形，而PCIe Gen 3/4則要求一個(gè)波形。現(xiàn)在一共需要48個(gè)波形，因此耗時(shí)很長(zhǎng)！ USB4中接收機(jī)測(cè)試和校準(zhǔn)變化現(xiàn)在我們討論一下USB4中接收機(jī)測(cè)試和校準(zhǔn)有哪些變化。首先，USB4必需對(duì)全部5個(gè)SJ頻率執(zhí)行接收機(jī)校準(zhǔn)。這較USB3.2接收機(jī)校準(zhǔn)變化很大，在USB3.2中我們只在100MHzSJ頻率執(zhí)行校準(zhǔn)，然后使用相同的壓力眼圖校準(zhǔn)進(jìn)行接收機(jī)測(cè)試。USB4還有兩種測(cè)試情況，我們需要進(jìn)行自動(dòng)調(diào)諧或精調(diào)，來(lái)滿足壓力眼圖或總抖動(dòng)目標(biāo)。情況1...
2023-02-07