模擬器熱成像校準系統性價比高

NVS夜視設備多功能測試系統是一個模塊化的測試系統，可測試長程夜視瞄準設備，同時支持測試短程夜視鏡及雙目夜視鏡。因此NVS測試系統是一個多功能測試系統。NVS測試系統采用模塊化設計，包括一組可切換的透射式光管、可移動的光源和一組靶標等模塊。

NVS測量系統的蕞大優點就是通過采用不同的透射式平行光管和一組靶標，能夠測量所有類型的夜視儀。必須在測量前準備合適的平行光管，靶標和對準被測夜視器件。如果只測試短程夜視鏡以及小型夜視設備的情況下推薦NVT/NV14測試 熱成像新視界，基數參數智能校準，細節呈現更完美！模擬器熱成像校準系統性價比高

MS多波段整機測試系統一系列不同的輻射源可以用在投影系統中（光譜范圍擴展到SWIR的光源或者MTB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統中的靶標也可用于測量。

測量成像整機系統軸校準：電控的測試系統生成由被測試熱像儀及相機生成的圖像并計算兩者之間的角度：a)熱像儀在不同視場下的光軸；b)相機在不同鏡頭放大率下的光軸；c)熱像儀與相機之間的光軸。激光系統軸對準：計算機控制的測量系統分析激光系統在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角：激光光軸（激光測距儀，激光指示器，激光照射器等）相對于成像系統光軸。注意：MS系統可以進行激光測距儀發射光軸的校準。這里假定激光測距儀發射光軸與接收已經調整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統軸的能力。

測量SWIR相機：SIWR投影系統與圖像分析計算機系統相結合來測量SIWR相機。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標；測量不同圖像格式的熱像儀：當采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時；也可以選擇數字圖像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測量高分辨率高幀頻的數字輸出傳感器。 云南熱成像校準系統價格多少智能校準，熱成像更穩定，基數參數調整，守護安全每一刻！

SIM簡易熱像儀測試系統是一款經濟、實用的手動切換靶標的圖像投影系統，由5個模塊組成：標準品質的CDT離軸反射式光管（不適用于長程熱像儀），NSB40黑體，CNSB控制器，TP2靶標槽和一組紅外靶標。SIM一般投射兩種類型的目標的圖像：a)十字靶標的圖像(可提供兩種尺寸)，b)USAF951年靶標的圖像。CNSB控制器可控制NSB黑體的溫度，從而調節投影圖像的熱對比度。由于NSB40中不是一個穩定的黑體，用戶可以調節溫度，但溫度不穩定，且不能準確測量(只提供相對指示)。

FUT靶標為棋盤型靶標，采用大面積、均勻溫度的輻射源，經表面加工后在高發射率背景下實現低發射率。FUT靶標尺寸較大，能夠完全填充被測融合成像系統的視野。利用熱像儀和可見光/近紅外成像傳感器對FUT靶標進行圖像采集，為有效的圖像融合提供了必要的數據。FUT靶標是一種均勻加熱的靶標，通常不能夠進行調節高溫度。操作較為簡單，插上電源加熱十幾分鐘穩定后就可進行使用。

測試功能：FUT靶標可以用于以下測試：?對準誤差（熱通道光軸相對于可見光通道光軸的角度）?旋轉誤差（熱通道圖像與可見通道圖像之間的角度）?熱成像通道圖像相對于可見成像通道圖像的二維空間位移圖（與另一通道中的同一像素相比，像素的位移量和位移方向的信息）?熱像儀分辨率測試 高效校準，Inframet TAIM熱瞄準鏡和熱像儀夾測試系統更穩定，基數參數調整，讓監控更智能！

DTR短焦熱像儀測試系統是傳統DT熱像儀測試系統的一個特殊版本。這兩個系統都是將一系列的標準靶標投影出去，被測熱像儀接收成像。DT系統使用了較長焦距和大孔徑的離軸反射式光管，而DTR系統則使用較短焦距和小孔徑的透射式光管。因此，相同的紅外靶標由DTR系統投射后，被測熱像儀接收的圖像比由DT系統透射出的要更大。從數學上講，DTR系統可以投射出比典型DT系統空間頻率要低幾倍的4桿靶圖像。

DTR測試系統在測試過程中，被測熱像儀的奈奎斯特空間頻率(等于1/2IFOV)可低至0.02lp/mrad(熱像儀的探測器像元尺寸17um，物鏡焦距0.68mm)，可滿足市場上大多數大視場熱像儀的測量需求。另外DTR測試系統提供2個不同焦距和視場的光管供選擇，可根據被測熱像儀的分辨率和視場來選擇適用的光管。通常DTR測試系統提供測試長波熱像儀的配置，可選配測量中波熱像儀。 專業校準，熱成像基數參數優化，讓夜間監控更智能、更精確！云南熱成像校準系統價格多少

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BLIQ黑體作為TCB系列特殊版本，可以彌補TCB其他型號的不足：大尺寸面源，需要降溫到零下-40℃的溫度。BLIQ也有一些限制條件：需要連接BLIQ黑體的安全罩（Inframet可提供）。覆蓋罩須裝充有干燥的氮氣，以保護黑體發射器免受結霜或濕氣冷凝。用戶需要提供干燥的氮氣。安全罩不能有任何漏洞以免潮濕熱氣體進入罩內。測試成像儀的光學鏡頭必須完全覆蓋在罩中的輸入孔中。罩長必須至少等于黑體發射面的大小。這意味著被測試的成像儀不能位于距BLIQ黑體發射器很短的距離。模擬器熱成像校準系統性價比高