北京測量USB物理層測試

USB測試基本介紹隨著USB技術在消費電子產品和其他電子產品上的快速發展和普及應用，USB性能規范和符合性測試變得越來越重要。如果生產商希望在產品上粘貼符合USB-IF標準的USB認證標志，任何附有USB端口的產品，例如電腦、手機、音視頻產品以及其他電子設備等都必須進行USB測試。北測是獲得認可的測試實驗室，完全符合USB-IF的標準，可幫助制造商獲得USB認證，并在產品上粘貼USB標志。測試服務USB測試服務包括：高速、全速、低速USB設備測試·外部裝置·主機內插卡·集線器·系統·集成電路·電線組件·連接器·USBOTG什么是USB兼容性測試？北京測量USB物理層測試

c)EqualizationCalibration針對無源電纜的應用場景，USB的發送端測試點在TP3。示波器在進行信號質量分析前，需要模擬真實device，引入一個參考均衡算法，減輕有損電纜對信號質量的惡化。USB4.0定義了這種參考均衡算法可以有多種不同的連續時間線性均衡(CTLE:Continuous-Time-Linear-Equalizer)和判決反饋均衡(DFE:Decision-Feedback-Equalizer)組成。在做TP3測試前，需要sweep這些組合，找到能提供眼圖面積(如果面積相等，參考眼高)的算法，以此為基礎，得到TP3相關的測試結果。d)USB4.0抖動分離為了更好表征高達20Gbps的USB4.0信號質量，不同于USB3.2測試Tj,Rj和Dj三個抖動指標，USB4.0定義了嚴格的TJ,UDJ,DDJ,LPUDJ,DCD等抖動指標，并且對每個指標如何做抖動分離、如何測量做了詳細的規定。北京測量USB物理層測試USB物理層測試是否包括對超級速度USB（USB 3.1及更高版本）的測試？

和發送端測試類似，  USB4.0 需要支持有源電纜 (Case 1) 和無源電 纜 (Case 2) 兩種應用場景，接收端對應的測試點分別是 TP3’和 TP3。既然信號源需要提供一個標準的符合規范的壓力信號進行 接收端測試，  就必須采用示波器對壓力信號進行校準，  保證信號 源發出的信號經過不同的夾具、電纜后到達測試點各壓力成分均 滿足規范的要求。同時在接收端測試時，  我們需要準備兩條被 USB-IF 協會認證過的無源電纜，  2M 長的 USB4.0 Gen2(10Gb/s) 無源 電纜和 0.8M 長的 USB4.0 Gen3(20Gb/s) 無源電纜，  模擬惡劣的鏈 路環境。

a)USB-IFUSB4ETT軟件下圖是USB-IF新推出的USB4ETT(USB4.0ElectricalTestTool)工具的實際界面，它可以通過USB4ElectricalTestT；手動控制)或者USB4ElectricalTestToolCLI.exe(commandlineinterface；自動化編程控制)兩種方式，使被測設備產生必須的測試碼型。b)TransmitterPresetCalibrationUSB4.0信號為了補償有損鏈路帶來的損耗，定義了16種發送端均衡(Preset0~Preset15)，測試規范規定在做發送端測試前，需要對每一個接口的每一對高速信號支持的每一種速率分別做Preset的校準，選擇能夠提供值小DDJ值的Preset值，把它設定到被測體的固件里，作為后續驗證的基礎。進行USB 2.0 物理層測試？

測試過程Tektronix示波器對于USB2.0這類接口的測試都有非常完善的測試解決方案，這些方案都是標準流程化的，只要進入到軟件測試界面即可按照流程圖一步一步的往下進行測試。下面是測試時的相關設置和注意事項：在測試前，首先要預熱、校準示波器（大約20分鐘）、線纜需要做de-skew。這一步非常的關鍵，特別是線纜做de-skew，因為很多時候線纜與線纜之間有一些偏差，如果不做de-skew就會導致在差分信號的正端和負端引入系統誤差。然后就開啟測試USB2.0軟件TDSUSB2TestApp，USB4.0回波損耗測試定義？自動化USB物理層測試TX/RX

USB物理層測試是否涵蓋對傳輸線路的損耗測試？北京測量USB物理層測試

為了模擬傳輸通道對信號的影響，USB協會提供了相應的測試夾具。每套測試夾具由很多塊組成，可以模擬相應的PCB走線并在中間插入測試電纜。這些測試夾具通過組合可以進行發送信號質量的測試，也可以進行接收容限的測試，或者進行接收容限測試前的校準。圖3.4是USB協會提供的針對10Gbps的A型接口主機及Micro-B型接口外設的測試夾具。除了使用真實的測試夾具和電纜來模擬傳輸通道對信號的影響外，實際測試中還可以用示波器的S參數嵌入功能來模擬加入傳輸通道影響，這樣可以簡化測試連接，也避免了夾具反復插拔造成的特性變化。圖3.5是使用夾具直接引出信號，并通過示波器中的S參數嵌入功能進行通道嵌入的典型的USB3.0的信號質量測試環境。北京測量USB物理層測試