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來源: 發布時間:2023-04-18

DDR時鐘總線的一致性測試

DDR總線參考時鐘或時鐘總線的測試變得越來越復雜,主要測試內容可以分為兩方面:波形參數和抖動。波形參數主要包括:Overshoot(過沖);Undershoot(下沖);SlewRate(斜率);RiseTime(上升時間)和FallTime(下降時間);高低時間;DutyCycle(占空比失真)等,測試較簡單,在此不再贅述。抖動測試則越來越復雜,以前一般只是測試Cycle-CycleJitter(周期到周期抖動),但是當速率超過533MT/S的DDR2&3時,測試內容相當多,不可忽略。表7-15是DDR2667的規范參數。對這些抖動參數的測試需要用軟件實現,比如Agilent的N5413ADDR2時鐘表征工具。測試建議用系統帶寬4GHz以上的差分探頭和示波器,測試點在DIMM上靠近DRAM芯片的位置,被測系統建議運行MemoryTest類的總線加壓軟件。 DDR2 和 LPDDR2 一致性測試軟件。河南DDR一致性測試維保

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DDR總線一致性測試

工業標準總線一致性測量概述

高速數字系統使用了各種工業標準總線,對這些工業標準總線進行規范一致性測量是確 保系統工作穩定和可靠的關鍵點之一。“一致性”是對英文單詞“Compliance”的中文解釋, 美國把按工業標準規范進行的電氣參數測量叫作一致性測量。

測試這些工業標準總線,完整和可靠的測試方案是非常重要的。完整的測試方案不僅保證測試準確度,還可以大量節省測試時間,提高工作效率。

工業標準總線完整的測試方案一般包括幾部分:測試夾具;探頭和附件;自動測試軟件;測試儀器。 河南DDR一致性測試維保DDR眼圖測試及分析DDR穩定性測試\DDR2一致性測試;

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相關器件的應用手冊,ApplicationNote:在這個文檔中,廠家一般會提出一些設計建議,甚至參考設計,有時該文檔也會作為器件手冊的一部分出現在器件手冊文檔中。但是在資料的搜集和準備中,要注意這些信息是否齊備。

參考設計,ReferenceDesiqn:對于比較復雜的器件,廠商一般會提供一些參考設計,以幫助使用者盡快實現解決方案。有些廠商甚至會直接提供原理圖,用戶可以根據自己的需求進行更改。

IBIS 文件:這個對高速設計而言是必需的,獲得的方法前面已經講過。

大部分的DRAM都是在一個同步時鐘的控制下進行數據讀寫,即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據時鐘采樣方式的不同,又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR  SDRAM只在時鐘的上升或者下降沿進行數據采樣,而DDR SDRAM在時鐘的上升和下降 沿都會進行數據采樣。采用DDR方式的好處是時鐘和數據信號的跳變速率是一樣的,因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時鐘和數據信號是一樣的。DDR5 接收機一致性和表征測試應用軟件。

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DDR規范沒有定義模板,這給用眼圖方式分析信號時判斷信號是否滿足規范要求帶來挑戰。有基于JEDEC規范定義的,ds、,dh、-H(ac)min和rIL(ac)max參數,得出的DDR2533寫眼圖的模板,中間的區域就是模板,中間的線是DQS的有效邊沿即有效的上升沿或下降沿。嚴格按規范來說的話,中間的模板應該定義為橫著的梯形,因為保持時間是相對于DC參數的,不過用長方形可以定義一個更嚴格的參數要求。

DDR總線一致性測試對示波器帶寬的要求

因為Jedec規范沒有給岀DDR具體的快的上升、下降時間,通過預估的方式可以得岀 快的邊沿時間,但是往往比實際要快,是基于實際PCB板材的情況得出的結果,有 了這個結果可計算出需要的示波器帶寬。 DDR 設計和測試解決方案;湖北DDR一致性測試故障

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DDR地址、命令總線的一致性測試

DDR的地址、命令總線的信號完整性測試主要測試其波形和時序參數。地址總線An、 命令總線/RAS、/CAS、/WE、/CS需要測試的信號品質主要包括:Vmax (最大電壓值);Vmin (小電壓值);Overshoot (過沖)和Undershoot (下沖)的持續時間的大值;Slew Rate (斜率);Ringback (回溝)等。還需要測試相對于時鐘邊沿的Setup Time (建立時間)和Hold Time (保持時間)。建立時間和保持時間的定義如圖7.134所示,其中加為建立時間,如為 保持時間,針對DDR400,加和如為0.7ns。


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