貴州測試服務DDR一致性測試

相關器件的應用手冊，ApplicationNote:在這個文檔中，廠家一般會提出一些設計建議，甚至參考設計，有時該文檔也會作為器件手冊的一部分出現在器件手冊文檔中。但是在資料的搜集和準備中，要注意這些信息是否齊備。

參考設計，ReferenceDesiqn:對于比較復雜的器件，廠商一般會提供一些參考設計，以幫助使用者盡快實現解決方案。有些廠商甚至會直接提供原理圖，用戶可以根據自己的需求進行更改。

IBIS 文件:這個對高速設計而言是必需的，獲得的方法前面已經講過。 擴展 DDR5 發射機合規性測試軟件的功能。貴州測試服務DDR一致性測試

以上只是 一 些進行DDR讀/寫信號分離的常用方法，根據不同的信號情況可以做選 擇。對于DDR信號的 一 致性測試來說，用戶還可以選擇另外的方法，比如根據建立/保持 時間的不同進行分離或者基于CA信號突發時延的方法(CA高接下來對應讀操作，CA低 接下來對應寫操作)等，甚至未來有可能采用一些機器學習(Machine Learning)的方法對 讀/寫信號進行判別。讀時序和寫時序波形分離出來以后，就可以方便地進行波形參數或者 眼圖模板的測量。

克勞德高速數字信號測試實驗室 DDR測試DDR一致性測試高速信號傳輸DDR時鐘總線的一致性測試。

DDR 規范的 DC 和 AC 特性

對于任何一種接口規范的設計，首先要搞清楚系統中傳輸的是什么樣的信號，也就是驅動器能發出什么樣的信號，接收器能接受和判別什么樣的信號，用術語講，就是信號的DC和AC特性要求。

在DDR規范文件JEDEC79R的第51頁[TABLE6:ELECTRICALCHARACTERISTICSANDDCOPERATINGCONDITIONS]中對DDR的DC有明確要求:VCC=+2.5V+0.2V，Vref=+1.25V±0.05V，VTT=Vref±0.04V.

在我們的實際設計中，除了要精確設計供電電源模塊之外，還需要對整個電源系統進行PI仿真，而這是高速系統設計中另一個需要考慮的問題，在這里我們先不討論它，暫時認為系統能夠提供穩定的供電電源。

除DC特性外，我們還應該注意規范中提到的AC特性，所謂AC特性，就是信號在高速利轉狀態下所表現出的動態變化特性。DDR規范中第60頁，對外于云態變化的地址信號、控制信號及數據信號分別給出了交流特性的要求。為方便讀者，現把規范中對干信號交流特性的要求復制到這里，作為高速系統設計的一部分，要確保在我們的系統中，所有處于高速工作狀態下的DDR信號要符合這個AC特性規范。

為了針對復雜信號進行更有效的讀/寫信號分離，現代的示波器還提供了很多高級的信號 分離功能，在DDR測試中常用的有圖形區域觸發的方法和基于建立/保持時間的觸發方法。

圖形區域觸發是指可以用屏幕上的特定區域(Zone)定義信號觸發條件。用 區域觸發功能對DDR的讀/寫信號分離的 一 個例子。用鎖存信號DQS信號觸發可以看到 兩種明顯不同的DQS波形， 一 種是讀時序的DQS波形，另 一 種是寫信號的DQS波形。打 開區域觸發功能后，通過在屏幕上的不同區域畫不同的方框，就可以把感興趣區域的DQS 波形保留下來，與之對應的數據線DQ上的波形也就保留下來了。 DDR2 和 LPDDR2 一致性測試軟件。

DDR規范沒有定義模板，這給用眼圖方式分析信號時判斷信號是否滿足規范要求帶來挑戰。有基于JEDEC規范定義的，ds、，dh、-H(ac)min和rIL(ac)max參數,得出的DDR2533寫眼圖的模板，中間的區域就是模板，中間的線是DQS的有效邊沿即有效的上升沿或下降沿。嚴格按規范來說的話，中間的模板應該定義為橫著的梯形，因為保持時間是相對于DC參數的，不過用長方形可以定義一個更嚴格的參數要求。

DDR總線一致性測試對示波器帶寬的要求

因為Jedec規范沒有給岀DDR具體的快的上升、下降時間，通過預估的方式可以得岀 快的邊沿時間，但是往往比實際要快，是基于實際PCB板材的情況得出的結果，有 了這個結果可計算出需要的示波器帶寬。 DDR4 電氣一致性測試應用軟件。貴州測試服務DDR一致性測試

DDR眼圖讀寫分離的傳統方法。貴州測試服務DDR一致性測試

D D R 5 的 接 收 端 容 限 評 估 需 要 通 過 接 收 容 限 的 一 致 性 測 試 來 進 行 ， 主 要 測 試 的 項 目 有 D Q 信 號 的 電 壓 靈 敏 度 、 D Q S 信 號 的 電 壓 靈 敏 度 、 D Q S 的 抖 動 容 限 、 D Q 與 D Q S 的 時 序 容 限、DQ的壓力眼測試、DQ的均衡器特性等。

在DDR5的接收端容限測試中，也需要通過御用的測試夾具對被測件進行測試以及測試前的校準。展示了一套DDR5的DIMM條的測試夾具，包括了CTC2夾具(ChannelTestCard)和DIMM板(DIMMTestCard)等。CTC2夾具上有微控制器和RCD芯片等，可以通過SMBus/I2C總線配置電路板的RCD輸出CA信號以及讓被測件進入環回模式。測試夾具還提供了CK/CA/DQS/DQ/LBD/LBS等信號的引出。 貴州測試服務DDR一致性測試

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