由于讀/寫時序不一樣造成的另一個問題是眼圖的測量。在DDR3及之前的規范中沒 有要求進行眼圖測試,但是很多時候眼圖測試是一種快速、直觀衡量信號質量的方法,所以 許多用戶希望通過眼圖來評估信號質量。而對于DDR4的信號來說,由于時間和幅度的余量更小,必須考慮隨機抖動和隨機噪聲帶來的誤碼率的影響,而不是做簡單的建立/保 持時間的測量。因此在DDR4的測試要求中,就需要像很多高速串行總線一樣對信號疊加 生成眼圖,并根據誤碼率要求進行隨機成分的外推,然后與要求的小信號張開窗口(類似 模板)進行比較。圖5 . 8是DDR4規范中建議的眼圖張開窗口的測量方法(參考資料: JEDEC STANDARD DDR4 SDRAM,JESD79-4)。DDR4 一致性測試平臺插件。云南解決方案DDR一致性測試
RDIMM(RegisteredDIMM,寄存器式雙列直插內存)有額外的RCD(寄存器時鐘驅動器,用來緩存來自內存控制器的地址/命令/控制信號等)用于改善信號質量,但額外寄存器的引入使得其延時和功耗較大。LRDIMM(LoadReducedDIMM,減載式雙列直插內存)有額外的MB(內存緩沖,緩沖來自內存控制器的地址/命令/控制等),在技術實現上并未使用復雜寄存器,只是通過簡單緩沖降低內存總線負載。RDIMM和LRDIMM通常應用在高性能、大容量的計算系統中。
綜上可見,DDR內存的發展趨勢是速率更高、封裝更密、工作電壓更低、信號調理技術 更復雜,這些都對設計和測試提出了更高的要求。為了從仿真、測試到功能測試階段保證DDR信號的波形質量和時序裕量,需要更復雜、更的仿真、測試和分析工具。
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為了針對復雜信號進行更有效的讀/寫信號分離,現代的示波器還提供了很多高級的信號 分離功能,在DDR測試中常用的有圖形區域觸發的方法和基于建立/保持時間的觸發方法。
圖形區域觸發是指可以用屏幕上的特定區域(Zone)定義信號觸發條件。用 區域觸發功能對DDR的讀/寫信號分離的 一 個例子。用鎖存信號DQS信號觸發可以看到 兩種明顯不同的DQS波形, 一 種是讀時序的DQS波形,另 一 種是寫信號的DQS波形。打 開區域觸發功能后,通過在屏幕上的不同區域畫不同的方框,就可以把感興趣區域的DQS 波形保留下來,與之對應的數據線DQ上的波形也就保留下來了。
為了進行更簡單的讀寫分離,Agilent的Infiniium系列示波器提供了一種叫作InfiniiScan 的功能,可以通過區域(Zone)定義的方式把讀寫數據可靠分開。
根據讀寫數據的建立保持時間不同,Agilent獨有的InfiniiScan功能可以通過在屏幕上畫 出幾個信號必須通過的區域的方式方便地分離出讀、寫數據,并進一步進行眼圖的測試。
信號的眼圖。用同樣的方法可以把讀信號的眼圖分離出來。
除了形成眼圖外,我們還可以利用示波器的模板測量功能對眼圖進行定量分析,
用戶可以根據JEDEC的要求自行定義一個模板對讀、寫信號進行模板測試,如 果模板測試Fail,則還可以利用Agilent示波器提供的模板定位功能定位到引起Fail的波形段。 DDR、DDR2、DDR3、DDR4都有什么區別?
DDR地址、命令總線的一致性測試
DDR的地址、命令總線的信號完整性測試主要測試其波形和時序參數。地址總線An、 命令總線/RAS、/CAS、/WE、/CS需要測試的信號品質主要包括:Vmax (最大電壓值);Vmin (小電壓值);Overshoot (過沖)和Undershoot (下沖)的持續時間的大值;Slew Rate (斜率);Ringback (回溝)等。還需要測試相對于時鐘邊沿的Setup Time (建立時間)和Hold Time (保持時間)。建立時間和保持時間的定義如圖7.134所示,其中加為建立時間,如為 保持時間,針對DDR400,加和如為0.7ns。
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D D R 5 的 接 收 端 容 限 評 估 需 要 通 過 接 收 容 限 的 一 致 性 測 試 來 進 行 , 主 要 測 試 的 項 目 有 D Q 信 號 的 電 壓 靈 敏 度 、 D Q S 信 號 的 電 壓 靈 敏 度 、 D Q S 的 抖 動 容 限 、 D Q 與 D Q S 的 時 序 容 限、DQ的壓力眼測試、DQ的均衡器特性等。
在DDR5的接收端容限測試中,也需要通過御用的測試夾具對被測件進行測試以及測試前的校準。展示了一套DDR5的DIMM條的測試夾具,包括了CTC2夾具(ChannelTestCard)和DIMM板(DIMMTestCard)等。CTC2夾具上有微控制器和RCD芯片等,可以通過SMBus/I2C總線配置電路板的RCD輸出CA信號以及讓被測件進入環回模式。測試夾具還提供了CK/CA/DQS/DQ/LBD/LBS等信號的引出。 云南解決方案DDR一致性測試
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