江西PCI-E測(cè)試系列

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-03-05

PCIe4.0的測(cè)試項(xiàng)目PCIe相關(guān)設(shè)備的測(cè)試項(xiàng)目主要參考PCI-SIG發(fā)布的ComplianceTestGuide(一致性測(cè)試指南)。在PCIe3.0的測(cè)試指南中,規(guī)定需要進(jìn)行的測(cè)試項(xiàng)目及其目的如下(參考資料:PCIe3.0ComplianceTestGuide):·ElectricalTesting(電氣特性測(cè)試):用于檢查主板以及插卡發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的電氣性能。·ConfigurationTesting(配置測(cè)試):用于檢查PCIe設(shè)備的配置空間。·LinkProtocolTesting(鏈路協(xié)議測(cè)試):用于檢查設(shè)備的鏈路層協(xié)議行為。PCI-E3.0的接收端測(cè)試中的Repeater起作用?江西PCI-E測(cè)試系列

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要精確產(chǎn)生PCle要求的壓力眼圖需要調(diào)整很多參數(shù),比如輸出信號(hào)的幅度、預(yù)加重、 差模噪聲、隨機(jī)抖動(dòng)、周期抖動(dòng)等,以滿足眼高、眼寬和抖動(dòng)的要求。而且各個(gè)調(diào)整參數(shù)之間 也會(huì)相互制約,比如調(diào)整信號(hào)的幅度時(shí)除了會(huì)影響眼高也會(huì)影響到眼寬,因此各個(gè)參數(shù)的調(diào) 整需要反復(fù)進(jìn)行以得到 一個(gè)比較好化的組合。校準(zhǔn)中會(huì)調(diào)用PCI-SIG的SigTest軟件對(duì)信號(hào) 進(jìn)行通道模型嵌入和均衡,并計(jì)算的眼高和眼寬。如果沒(méi)有達(dá)到要求,會(huì)在誤碼儀中進(jìn) 一步調(diào)整注入的隨機(jī)抖動(dòng)和差模噪聲的大小,直到眼高和眼寬達(dá)到參數(shù)要求。四川自動(dòng)化PCI-E測(cè)試PCIE 5.0,速率翻倍vs性能優(yōu)化;

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為了克服大的通道損耗,PCle5.0接收端的均衡能力也會(huì)更強(qiáng)一些。比如接收端的 CTLE均衡器采用了2階的CTLE均衡,其損耗/增益曲線有4個(gè)極點(diǎn)和2個(gè)零點(diǎn),其直流增益可以在-5~ - 15dB之間以1dB的分辨率進(jìn)行調(diào)整,以精確補(bǔ)償通道損耗的  影響。同時(shí),為了更好地補(bǔ)償信號(hào)反射、串?dāng)_的影響,其接收端的DFE均衡器也使用了更復(fù) 雜的3-Tap均衡器。對(duì)于發(fā)射端來(lái)說(shuō),PCle5.0相對(duì)于PCIe4.0和PCIe3.0來(lái)說(shuō)變化不大, 仍然是3階的FIR預(yù)加重以及11種預(yù)設(shè)好的Preset組合。

在測(cè)試通道數(shù)方面,傳統(tǒng)上PCIe的主板測(cè)試采用了雙口(Dual-Port)測(cè)試方法,即需要 把被測(cè)的一條通道和參考時(shí)鐘RefClk同時(shí)接入示波器測(cè)試。由于測(cè)試通道和RefClk都是 差分通道,所以在用電纜直接連接測(cè)試時(shí)需要用到4個(gè)示波器通道(雖然理論上也可以用2個(gè) 差分探頭實(shí)現(xiàn)連接,但是由于會(huì)引入額外的噪聲,所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點(diǎn)是可以比較方便地計(jì)算數(shù)據(jù)通道相對(duì)于RefClk的抖動(dòng)。但在PCIe5.0中,對(duì)于 主板的測(cè)試也采用了類(lèi)似于插卡測(cè)試的單口(Single-Port)方法,即只把被測(cè)數(shù)據(jù)通道接入 示波器測(cè)試,這樣信號(hào)質(zhì)量測(cè)試中只需要占用2個(gè)示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號(hào)質(zhì)量測(cè)試組網(wǎng)圖,芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過(guò)PCI-SIG如果被測(cè)件是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口,如何進(jìn)行PCI-E的協(xié)議分析?

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(9)PCle4.0上電階段的鏈路協(xié)商過(guò)程會(huì)先協(xié)商到8Gbps,成功后再協(xié)商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統(tǒng)的收發(fā)端共參考時(shí)鐘模式,還提供了收發(fā)端采用參考時(shí)鐘模式的支持。通過(guò)各種信號(hào)處理技術(shù)的結(jié)合,PCIe組織總算實(shí)現(xiàn)了在兼容現(xiàn)有的FR-4板材和接插  件的基礎(chǔ)上,每一代更新都提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率。但同時(shí)收/發(fā)芯片會(huì)變  得更加復(fù)雜,系統(tǒng)設(shè)計(jì)的難度也更大。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性, 就成為設(shè)計(jì)和測(cè)試人員面臨的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。pcie物理層面檢測(cè),pcie時(shí)序測(cè)試;山東PCI-E測(cè)試參考價(jià)格

PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么?江西PCI-E測(cè)試系列

PCIe4.0的測(cè)試夾具和測(cè)試碼型要進(jìn)行PCIe的主板或者插卡信號(hào)的一致性測(cè)試(即信號(hào)電氣質(zhì)量測(cè)試),首先需要使用PCIe協(xié)會(huì)提供的夾具把被測(cè)信號(hào)引出。PCIe的夾具由PCI-SIG定義和銷(xiāo)售,主要分為CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。對(duì)于發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試來(lái)說(shuō),CBB用于插卡的測(cè)試,CLB用于主板的測(cè)試;但是在接收容限測(cè)試中,由于需要把誤碼儀輸出的信號(hào)通過(guò)夾具連接示波器做校準(zhǔn),所以無(wú)論是主板還是插卡的測(cè)試,CBB和CLB都需要用到。江西PCI-E測(cè)試系列

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