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Cle4.0測(cè)試的CBB4和CLB4夾具無(wú)論是Preset還是信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試,都需要被測(cè)件工作在特定速率的某些Preset下,要通過(guò)測(cè)試夾具控制被測(cè)件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是:在被測(cè)件插入測(cè)試夾具并且上電以后,可以通過(guò)測(cè)試夾具上的切換開(kāi)關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測(cè)試碼型。在切換測(cè)試夾具上的Toggle開(kāi)關(guān)時(shí),正常的PCle4.0的被測(cè)件依次會(huì)輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8GbpsPCI-E測(cè)試和協(xié)議調(diào)試;測(cè)量PCI-E測(cè)試代理品牌
如前所述,在PCle4.0的主板和插卡測(cè)試中,PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過(guò)測(cè) 試夾具進(jìn)行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測(cè)試通道,而對(duì)端接收芯片封裝對(duì)信號(hào)的影 響是通過(guò)軟件的S參數(shù)嵌入進(jìn)行模擬的。測(cè)試過(guò)程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測(cè)試軟件把這個(gè)S參數(shù)文件的影響加到被測(cè)波形上。
PCIe4.0信號(hào)質(zhì)量分析可以采用兩種方法: 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動(dòng)分析,另一種是使用示波器廠(chǎng)商提供的軟件進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。 天津多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試PCI-E 3.0數(shù)據(jù)速率的變化;
·TransactionProtocolTesting(傳輸協(xié)議測(cè)試):用于檢查設(shè)備傳輸層的協(xié)議行為。·PlatformBIOSTesting(平臺(tái)BIOS測(cè)試):用于檢查主板BIOS識(shí)別和配置PCIe外設(shè)的能力。對(duì)于PCIe4.0來(lái)說(shuō),針對(duì)之前發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題以及新增的特性,替換或增加了以下測(cè)試項(xiàng)目·InteroperabilityTesting(互操作性測(cè)試):用于檢查主板和插卡是否能夠訓(xùn)練成雙方都支持的比較高速率和比較大位寬(Re-timer要和插卡一起測(cè)試)。·LaneMargining(鏈路裕量測(cè)試):用于檢查接收端的鏈路裕量掃描功能。其中,針對(duì)電氣特性測(cè)試,又有專(zhuān)門(mén)的物理層測(cè)試規(guī)范,用于規(guī)定具體的測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試方法。表4.2是針對(duì)PCIe4.0的主板或插卡需要進(jìn)行的物理層測(cè)試項(xiàng)目,其中灰色背景的測(cè)試項(xiàng)目都涉及鏈路協(xié)商功能。
項(xiàng)目2.12SystemReceiverLinkEqualizationTest:驗(yàn)證主板在壓力信號(hào)下的接收機(jī)性能及誤碼率,可以和對(duì)端進(jìn)行鏈路協(xié)商并相應(yīng)調(diào)整對(duì)端的預(yù)加重,針對(duì)8Gbps和16Gbps速率。·項(xiàng)目2.13Add-inCardPLLBandwidth:驗(yàn)證插卡的PLL環(huán)路帶寬,針對(duì)時(shí)鐘和所有支持的數(shù)據(jù)速率。·項(xiàng)目2.14Add-inCardPCBImpedance(informative):驗(yàn)證插卡上走線(xiàn)的PCB阻抗,不是強(qiáng)制測(cè)試。·項(xiàng)目2.15SystemBoardPCBImpedance(informative):驗(yàn)證主板上走線(xiàn)的PCB阻抗,不是強(qiáng)制測(cè)試。接下來(lái),我們重點(diǎn)從發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的電氣性能測(cè)試方面,講解PCIe4.0的物理層測(cè)試方法。PCIE物理層鏈路一致性測(cè)試狀態(tài)設(shè)計(jì);
PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時(shí)鐘(Common Refclk,CC)模式以 外,還可以允許芯片支持參考時(shí)鐘(Independent Refclk,IR)模式,以提供更多的連接靈 活性。在CC時(shí)鐘模式下,主板會(huì)給插卡提供一個(gè)100MHz的參考時(shí)鐘(Refclk),插卡用這 個(gè)時(shí)鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個(gè)參考時(shí)鐘可以在主機(jī)打開(kāi)擴(kuò)頻時(shí)鐘 (SSC)時(shí)控制收發(fā)端的時(shí)鐘偏差,同時(shí)由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線(xiàn)相對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)可以互 相抵消,所以對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)要求可以稍寬松一些PCI-E測(cè)試信號(hào)質(zhì)量測(cè)試;北京PCI-E測(cè)試聯(lián)系方式
如何區(qū)分pci和pci-e(如何區(qū)分pci和pcie) ?測(cè)量PCI-E測(cè)試代理品牌
當(dāng)被測(cè)件進(jìn)入環(huán)回模式并且誤碼儀發(fā)出壓力眼圖的信號(hào)后,被測(cè)件應(yīng)該會(huì)把其從RX 端收到的數(shù)據(jù)再通過(guò)TX端發(fā)送出去送回誤碼儀,誤碼儀通過(guò)比較誤碼來(lái)判斷數(shù)據(jù)是否被 正確接收,測(cè)試通過(guò)的標(biāo)準(zhǔn)是要求誤碼率小于1.0×10- 12。 19是用高性能誤碼儀進(jìn) 行PCIe4.0的插卡接收的實(shí)際環(huán)境。在這款誤碼儀中內(nèi)置了時(shí)鐘恢復(fù)電路、預(yù)加重模塊、 參考時(shí)鐘倍頻、信號(hào)均衡電路等,非常適合速率高、要求復(fù)雜的場(chǎng)合。在接收端容限測(cè)試中, 可調(diào)ISI板上Trace線(xiàn)的選擇也非常重要。如果選擇的鏈路不合適,可能需要非常長(zhǎng)的時(shí) 間進(jìn)行Stress Eye的計(jì)算和鏈路調(diào)整,甚至無(wú)法完成校準(zhǔn)和測(cè)試。 一般建議事先用VNA 標(biāo)定和選擇好鏈路,這樣校準(zhǔn)過(guò)程會(huì)快很多,測(cè)試結(jié)果也會(huì)更加準(zhǔn)確。所以,在PCIe4.0的 測(cè)試中,無(wú)論是發(fā)送端測(cè)試還是接收端測(cè)試,都比較好有矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀配合進(jìn)行ISI通道 選擇。測(cè)量PCI-E測(cè)試代理品牌
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