北京第三方檢測機構XRD衍射儀

來源: 發布時間:2025-04-24

BRAGG2D——監控樣品制備的質量樣品制備過程中的系統誤差,是分析誤差的重要來源。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,將樣品制備問題可視化,如粒徑或擇優取向。避免就統計而言沒有代表性的測量結果。運營成本低不消耗水硅條帶探測器技術,無需使用探測器氣體近乎無限的光管使用壽命可重復使用的樣品支持器低功耗(650W)布魯克與水泥業密切合作,不斷改進其分析解決方案。在D2PHASER方面,我們針對水泥業提供了一個軟件包,其中包括針對10多種原材料、熟料和不同水泥類型制定的、供工廠應用的測量和數據評估方法,可有效控制窯爐以及工廠的礦物學。與水泥軟件包相結合的D2PHASER非常適合小規模運營。對于每天需要測量大量樣品的大型工廠,請參見D8ENDEAVOR。安裝在標準陶瓷X射線管前面,可多達6種不同的光束幾何之間自動地進行電動切換,無需認為干預。北京第三方檢測機構XRD衍射儀

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納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射(GID)是表征薄膜材料的有效手段。通過控制不同的入射角度,進而控制X射線在薄膜中的穿透深度,可以確定薄膜材料的結構隨深度變化的信息。實例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不只如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。上海物相定量分析XRD衍射儀推薦咨詢所有樣品臺都是DIFFRAC.DAVINCI概念的組成部分,因此元件及其電動驅動裝置可在安裝時自動完成識別和配置。

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蒙脫石散及雜質的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急、慢性腹瀉的藥物。蒙脫石散的主要成分為層狀結構的粘土礦物蒙脫石。根據中國藥典,蒙脫石散的鑒別和雜質含量的分析的主要手段為XRD。不論在何種應用場合,它都是值得您選擇的探測器:高的計數率、動態范圍和能量分辨率。布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內的準直保證。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選,如:典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)

波特蘭水泥熟料礦相定量分析引言水泥和熟料的物理化學性能,比如凝結性能和強度變化等,不光是由化學組成所決定的,而主要是由其礦物組成所決定的。傳統的熟料物相分析采用BOGUE計算方法或熟料顯微鏡分析方法。這些方法的缺點是眾所周知的。目前有效的熟料礦相定量分析方法是XRD與Rietveld分析方法的結合。可以確定孰料中的C3S、C2S、C3A、C4AF等主要礦相的含量,還可以得到C3S、C2S、C3A等礦相多晶型含量以及游離鈣等微量相的含量。全能運動概念確保當樣品在移動時,感興趣區域始終在測角儀中心,從φ旋轉到XYZ平移和ψ傾斜,有5個自由度。

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D8ADVANCEECO可提供高亮度1kW線焦點X射線源,其能耗極低,無需外設水冷,對實驗室基礎設施亦無特殊要求。您只需準備家用壁式插座即可。因此,您將能簡單快捷地完成安裝和定位。D8ADVANCEECO將在分析性能不打折扣的前提下,將擁有成本和立式XRD儀器的生態足跡降至。插件分析:無需外設水冷:每年可節約高達1.700m3的自來水耗電減少50%左右需單相電源,由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。而有了UMC樣品臺的加持,D8 DISCOVER更是成為了電動位移和重量能力方面的同類較好。上海物相定量分析XRD衍射儀推薦咨詢

PATHFINDERPlus光學器件有一個確保測得強度的線性的自動吸收器,并可在以下之間切換:電動狹縫,分光晶體。北京第三方檢測機構XRD衍射儀

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜)。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。北京第三方檢測機構XRD衍射儀

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