汽車和航空航天:配備了UMC樣品臺的D8D的一大優勢就是可以對大型機械零件進行殘余應力和結構分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。半導體與微電子:從過程開發到質量控制,D8D可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結構表征。制藥業篩選:新結構測定以及多晶篩選是藥物開發的關鍵步驟,對此,D8D具有高通量篩選功能。儲能/電池:使用D8D,您將能在原位循環條件下測試電池材料,直接了當的獲取不斷變化的儲能材料的晶體結構和相組方面的信息。殘余應力分析、織構和極圖、微區X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)。云南BRUKERXRD衍射儀
RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上。常規的XRD測試,X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米,這遠遠大于薄膜的厚度,導致薄膜的信號會受到襯底的影響(圖1)。另外,如果衍射簡單較高,那么X射線只能輻射到部分樣品,無法利用整個樣品的體積,衍射信號弱。薄膜掠入射衍射(GID:GrazingIncidenceX-RayDiffraction)很好的解絕了以上問題。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角(<5°)照射到薄膜上,小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,同時增加衍射顆粒的數目和x射線在薄膜中的光程。這里有兩點說明:GID需要硬件配置;常規GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,不適合單晶外延膜。深圳原位分析XRD衍射儀推薦咨詢PATHFINDERPlus光學器件有一個確保測得強度的線性的自動吸收器,并可在以下之間切換:電動狹縫,分光晶體。
材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環plus樣品臺能夠精確地移動樣品,因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動:X軸25mm、Y軸70mm和Z軸52mm,可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品;緊湊型尤拉環plus樣品臺的Phi旋轉角度不受限制,Psi傾斜度在-5°到95°之間,可用于應力、織構和外延薄膜分析。另外,它還具有真空多用途通孔,可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺,將樣品固定在適當位置。二者均可用于溫控樣品臺,進行非環境分析。另外,它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統,輕松更換樣品臺。
蒙脫石散及雜質的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急、慢性腹瀉的藥物。蒙脫石散的主要成分為層狀結構的粘土礦物蒙脫石。根據中國藥典,蒙脫石散的鑒別和雜質含量的分析的主要手段為XRD。不論在何種應用場合,它都是您的推薦探測器:高的計數率、動態范圍和能量分辨率。布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內的準直保證。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選,如:典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)總散射分析:Bragg衍射、對分布函數(PDF)、小角X射線散射(SAXS)。
石油和天然氣D2PHASER是一種移動式的臺式X射線衍射儀(XRD),可用于鑒定地質樣品中的塊狀和黏土礦物。此外,X射線衍射(XRD)是分析頁巖層所必不可少的技術,可進行礦物學定性和定量表征。X射線衍射在石化業:使用D2PHASER識別膨脹性粘土(PDF)X射線衍射在石化業:使用D2PHASER對頁巖層進行井場礦物學分析(PDF)無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。孔板和沉積樣品在反射和透射中的高通量篩選。安徽檢測實驗室XRD衍射儀
X射線反射法、掠入射衍射(GID)、面內衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI應力分析、晶體取向分析。云南BRUKERXRD衍射儀
XRD檢測聚合物結晶度測定引言聚合物的結晶度是與其物理性質有很大關系的結構參數。有時,可以通過評估結晶度來確定剛度不足,裂紋,發白和其他缺陷的原因。通常,測量結晶度的方法包括密度,熱分析,NMR、IR以及XRD方法。這里將給出通過X射線衍射技術加全譜擬合法測定結晶度的方法的說明以及實例。結晶度對于含有非晶態的聚合物,其散射信號來源于兩部分:晶態的衍射峰和非晶態漫散峰。那么結晶度DOC則定義為晶態衍射峰面積與總散射信號面積的比值:云南BRUKERXRD衍射儀