吉田半導體柯圖泰全系列感光膠：進口品牌品質，本地化服務支持
柯圖泰全系列感光膠依托進口技術，提供高性價比的絲網印刷解決方案。
吉田半導體代理的柯圖泰全系列感光膠（如 PLUS 6000、Autosol 2000），源自美國先進配方，分辨率達 120 線 / 英寸，適用于玻璃、陶瓷等多種基材。產品通過 SGS 認證，符合電子行業有害物質限制要求，其高感光度與耐摩擦性，確保絲網印刷的清晰度與耐久性。公司提供技術參數匹配、制版工藝指導等本地化服務，幫助客戶優化生產流程，降低材料損耗。
吉田公司以無鹵無鉛配方與低 VOC 工藝打造光刻膠。青海激光光刻膠生產廠家
廣東吉田半導體材料有限公司多種光刻膠產品，主要涵蓋厚板、負性、正性、納米壓印及光刻膠等類別，以滿足不同領域的需求。
厚板光刻膠：JT-3001 型號，具有優異的分辨率和感光度，抗深蝕刻性能良好，符合歐盟 ROHS 標準，保質期 1 年。適用于對精度和抗蝕刻要求高的厚板光刻工藝，如特定電路板制造。
負性光刻膠
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SU-3 負性光刻膠：分辨率優異，對比度良好，曝光靈敏度高，光源適應，重量 100g。常用于對曝光精度和光源適應性要求較高的微納加工、半導體制造等領域。
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負性光刻膠 JT-1000：有 1L 和 100g 兩種規格，具有優異的分辨率、良好的對比度和高曝光靈敏度，光源適應。主要應用于對光刻精度要求高的領域，如半導體器件制造。
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耐腐蝕負性光刻膠 JT-NF100：重量 1L，具備耐腐蝕特性。適用于有腐蝕風險的光刻工藝，如特殊環境下的半導體加工或電路板制造。
內蒙古紫外光刻膠國產廠商厚板光刻膠 JT-3001，抗深蝕刻，PCB 電路板制造Preferred!
先進制程瓶頸突破
KrF/ArF光刻膠的量產能力提升直接推動7nm及以下制程的國產化進程。例如，恒坤新材的KrF光刻膠已批量供應12英寸產線，覆蓋7nm工藝，其工藝寬容度較日本同類型產品提升30%。這使得國內晶圓廠（如中芯國際）在DUV多重曝光技術下，能夠以更低成本實現接近EUV的制程效果，緩解了EUV光刻機禁運的壓力。此外，武漢太紫微的T150A光刻膠通過120nm分辨率驗證，為28nm成熟制程的成本優化提供了新方案。
EUV光刻膠研發加速
盡管EUV光刻膠目前完全依賴進口，但國內企業已啟動關鍵技術攻關。久日新材的光致產酸劑實現噸級訂單，科技部“十四五”專項計劃投入20億元支持EUV光刻膠研發。華中科技大學團隊開發的“雙非離子型光酸協同增強響應”技術，將EUV光刻膠的靈敏度提升至0.5mJ/cm，較傳統材料降低20倍曝光劑量。這些突破為未來3nm以下制程的技術儲備奠定基礎。
新型光刻技術融合
復旦大學團隊開發的功能型光刻膠，在全畫幅尺寸芯片上集成2700萬個有機晶體管，實現特大規模集成（ULSI）水平。這種技術突破不僅拓展了光刻膠在柔性電子、可穿戴設備等新興領域的應用，還為碳基芯片、量子計算等顛覆性技術提供了材料支撐。
國家大基金三期：注冊資本3440億元，明確將光刻膠列為重點投資領域，計劃投入超500億元支持樹脂、光引發劑等原料研發，相當于前兩期投入總和的3倍。
地方專項政策：湖北省對通過驗證的光刻膠企業給予設備采購補貼+稅收減免，武漢太紫微憑借全流程國產化技術獲中芯國際百萬級訂單；福建省提出2030年化工新材料自給率達90%，光刻膠是重點突破方向。
研發專項：科技部“雙十計劃”設立20億元經費，要求2025年KrF/ArF光刻膠國產化率突破10%，并啟動EUV光刻膠預研。
光刻膠：半導體之路上的挑戰與突破。
吉田半導體 JT-3001 厚板光刻膠：歐盟 RoHS 認證，PCB 電路板制造
憑借抗深蝕刻性能與環保特性，吉田 JT-3001 厚板光刻膠成為 PCB 行業材料。
吉田半導體推出的 JT-3001 厚板光刻膠，分辨率達 1.5μm，抗深蝕刻速率 > 500nm/min，適用于高密度電路板制造。產品通過歐盟 RoHS 認證，采用無鹵無鉛配方，符合環保要求。其優異的感光度與留膜率，確保復雜線路圖形的成型，已應用于華為 5G 基站主板量產。公司提供從材料選型到工藝優化的全流程支持，助力客戶提升生產效率與良率。
正性光刻膠的工藝和應用場景。廣東水性光刻膠國產廠家
光刻膠新興及擴展應用。青海激光光刻膠生產廠家
化學反應：
正性膠：曝光后光敏劑（如重氮醌DQN）分解，生成羧酸，在堿性顯影液中溶解；
負性膠：曝光后光敏劑引發交聯劑與樹脂形成不溶性網狀結構。
5. 顯影（Development）
顯影液：
正性膠：堿性水溶液（如0.26N四甲基氫氧化銨TMAH），溶解曝光區域；
負性膠：有機溶劑（如二甲苯、醋酸丁酯），溶解未曝光區域。
方法：噴淋顯影（PCB）或沉浸式顯影（半導體），時間30秒-2分鐘，需控制顯影液濃度和溫度。
6. 后烘（Post-Bake）
目的：固化膠膜，提升耐蝕刻性和熱穩定性。
條件：
溫度：100-150℃（半導體用正性膠可能更高，如180℃）；
時間：15-60分鐘（厚膠或高耐蝕需求時延長）。
7. 蝕刻/離子注入（后續工藝）
蝕刻：以膠膜為掩膜，通過濕法（酸堿溶液）或干法（等離子體）刻蝕基板材料（如硅、金屬、玻璃）；
離子注入：膠膜保護未曝光區域，使雜質離子只能注入曝光區域（半導體摻雜工藝）。
8. 去膠（Strip）
方法：
濕法去膠：強氧化劑（如硫酸+雙氧水）或有機溶劑（如N-甲基吡咯烷酮NMP）；
干法去膠：氧等離子體灰化（半導體領域，無殘留）。
青海激光光刻膠生產廠家
