因為傳遞過來的信號幅度比較小。圖23探頭的信號完整性考慮探頭的負載效應(yīng)主要分為兩種類型：直流負載和交流負載。直流負載：探頭看起來象一個對地的直流負載，一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性（即上下拉電阻較），這個負載可能會導致邏輯錯誤。直流負載主要由探頭尖的電阻決定，這個電阻阻值越，直流負載越小，阻值越小，直流負載越。交流負載：探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會減小探頭帶寬和導致信號反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個方面：探頭電容和探頭與目標連接的連線的電容。探頭導致信號反射的原因是4個方面：探頭電容和電感。探頭在被測總線上的探測位置；總線的拓撲結(jié)構(gòu)；探頭和目標間連線的長度。對于交流負載，我們需要考慮：探測點在傳輸線的位置，總線的拓撲結(jié)構(gòu)和探頭和目標間連線的長度。探頭的負載除了可以用復雜的Spice模型仿真分析外，也可以用簡單的RC模型簡單預估負載效應(yīng)。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細考慮探頭和目標之間的連線。為了可靠的電氣連接，有三種方式可選擇：短線探測（StubProbing),阻尼電阻探測。SPMl協(xié)議分析儀/訓練器找歐奧！深圳I3C協(xié)議分析儀那家好
圖5邊沿觸發(fā)跳變定時：在Transitional/Storequalified（跳變/存儲限定）定時模式中，定時分析儀將定期對數(shù)據(jù)進行采樣，但只有當閾電壓電平中存在信號轉(zhuǎn)變時才存儲數(shù)據(jù)。每當定義的總線/信號（未排除的）中的任何位發(fā)生轉(zhuǎn)變時，都要存儲所有通道上的數(shù)據(jù)。為每個存儲數(shù)據(jù)樣本存儲一個時間標簽，這樣稍后就可以重新構(gòu)建和顯示測量。通常，各個采樣點不會發(fā)生轉(zhuǎn)變。下面將用時間標簽2、5、7和14來舉例說明。當確實發(fā)生轉(zhuǎn)變時，為每個轉(zhuǎn)變存儲兩個樣本。因此，存儲1K的轉(zhuǎn)變，就會帶有2K內(nèi)存的樣本。必須去除一個起始點必需的轉(zhuǎn)變才能使存儲的小轉(zhuǎn)變量達到1023。如果轉(zhuǎn)變發(fā)生的速率很快，例如每個采樣點都有一個轉(zhuǎn)變，那么如下圖中的時間標簽17至21所示，只為每個轉(zhuǎn)變存儲一個樣本。如果整個跟蹤過程始終保持這種狀況，那么存儲的轉(zhuǎn)變數(shù)量為2K樣本。此外，必須去除起始點樣本，這樣才能使存儲的跳變量不超過2047。圖6跳變定時的數(shù)據(jù)存儲多數(shù)情況下，當小轉(zhuǎn)變量和轉(zhuǎn)變量都存在時會存儲跳變時序跟蹤。因此，在此例中存儲的實際轉(zhuǎn)變量將在1023和2047之間。跳變定時注意事項：檢測到時鐘沿時，在分配給定時分析儀的所有通道中存儲兩個樣本。深圳I3C協(xié)議分析儀那家好SDIO協(xié)議分析儀/訓練器找歐奧！
USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。序列步驟存儲總會覆蓋默認存儲，但只針對序列步驟存儲中特別指定的條件。處理默認存儲和序列步驟存儲之間的時一定要謹慎。雖然設(shè)置邏輯分析儀很困難，但觸發(fā)函數(shù)可以降低此過程的難度。觸發(fā)函數(shù)是可以組合起來設(shè)置觸發(fā)的常用構(gòu)建塊。由于這些函數(shù)涵蓋了多數(shù)普通觸發(fā)，因此通過選擇適當?shù)暮瘮?shù)并將其填充到數(shù)據(jù)中即可設(shè)置觸發(fā)。下圖顯示了邏輯分析儀觸發(fā)用戶界面。請注意，觸發(fā)函數(shù)位于屏幕左側(cè)的一個醒目位置。圖21使用觸發(fā)函數(shù)通常，設(shè)置復雜觸發(fā)的難題是對問題進行分解。換句話說，就是如何將復雜觸發(fā)映射到序列步驟、分支和布爾邏輯表達式。將問題分解為不同時發(fā)生的事件。這些事件對應(yīng)于序列步驟。掃描觸發(fā)函數(shù)列表，嘗試找出一些與步驟1中確定的事件相匹配的函數(shù)。將所有剩余事件分解為布爾邏輯表達式及其相應(yīng)操作。各個布爾邏輯表達式/操作對分別對應(yīng)于序列步驟中的一個單獨分支。請記住，可能存在只用于為序列步驟處理存儲限定的“存儲”分支。設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)與編寫軟件相徑庭。如果使用預定義的觸發(fā)函數(shù)和較早編寫的文檔完善的觸發(fā)來完成其他工作，就可降低設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)的難度。在沒有其他可用的資源時。
歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會收到EAR進出口方面的管制。同時還有代理其他總類的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓練器,I3C協(xié)議分析儀及訓練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓練器,車載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。就應(yīng)當有足夠高的定時分析采樣速率，但是并不是只有高速系統(tǒng)才需要高的采樣速率，現(xiàn)在的主流產(chǎn)品的采樣速率高達2GS/s，在這個速率下，我們可以看到。3、狀態(tài)分析速率在狀態(tài)分析時，邏輯分析儀采樣基準時鐘就用被測試對象的工作時鐘（邏輯分析儀的外部時鐘）這個時鐘的高速率就是邏輯分析儀的高狀態(tài)分析速率。也就是說，該邏輯分析儀可以分析的系統(tǒng)快的工作頻率。現(xiàn)在的主流產(chǎn)品的定時分析速率在300MHz，高可高達500MHz甚至更高。4、邏輯分析儀的每通道的記錄長度邏輯分析儀的內(nèi)存是用于存儲它所采樣的數(shù)據(jù)，以用于對比、分析、轉(zhuǎn)換。PCIE協(xié)議分析儀/訓練器找歐奧！
以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。沒有額外的被測設(shè)備）的一小段時間內(nèi)，可以自動：定位每個通道上的建立/保持窗口。針對盡可能寬的數(shù)據(jù)有效窗口調(diào)整閾電壓設(shè)置。眼定位是獲得盡可能小的邏輯分析儀建立/保持窗口的一種簡單方法。眼定位概要：對于指定的狀態(tài)采樣時鐘，眼定位可在時鐘沿前后的一個固定時間范圍內(nèi)查找數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)變（閾電壓交叉點），并為顯示相關(guān)內(nèi)容以幫助設(shè)置佳采樣位置。為了了解眼定位顯示，需為每個活動時鐘沿拍攝一張有關(guān)該時鐘沿的數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)變的“照片”。將此照片看作快照、定格畫面或頻閃觀測儀（位于時鐘沿中心或與時鐘沿同步）。到達時鐘沿的時間為T=0。例如，如果選擇盒1上時鐘輸入的上升沿作為狀態(tài)采樣時鐘，每次拍攝“照片”時，都將達到盒1時鐘上的上升沿。盒1時鐘沿之間的時間是否相同無關(guān)緊要。如果同時在上升沿和下降沿上進行采樣，那么在每一個時鐘沿上都會拍攝一張“照片”。此外，在活動沿之間消耗了多少時間也不重要。每一個時鐘沿上都要拍攝“照片”。要構(gòu)建眼定位顯示。歐奧協(xié)議訓練器是眾多客戶明智的選擇！深圳USB協(xié)議分析儀費用
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才能符合此表達式。換句話說，在ADDR等于1000的同時DATA等于2000。因此，如果要在同時發(fā)生兩個事件時觸發(fā)，則應(yīng)使用布爾邏輯表達式。常見錯誤是應(yīng)使用布爾邏輯表達式時嘗試使用兩個序列步驟，或者應(yīng)使用兩個序列步驟時嘗試使用布爾邏輯表達式。當多個事件同時發(fā)生時使用布爾邏輯表達式，而在一個事件接著一個事件發(fā)生時使用多個序列步驟。分支：分支類似于C編程語言中的Switch語句和Basic中的SelectCase語句。分支可提供測試多個sADDR”。多數(shù)邏輯分析儀還支持“notinrange”功能。范圍是一種方便的快捷方式，因此您無需指定“ADDR>=1000andADDR<=>標志：標志是用于從一個模塊向另一個模塊發(fā)送信號的布爾變量。當某種情況在某一模塊中發(fā)生而稍后被另一模塊測試時可以設(shè)置標志。在下面的示例中，標志1用于跟蹤在模塊1的觸發(fā)序列中發(fā)生的情況，如，如果想在ADDR=1000第5次出現(xiàn)時觸發(fā)，可以將觸發(fā)設(shè)置為：IfADDR=1000occurs5timesthenTrigger全局計數(shù)器類似于整數(shù)變量。全局計數(shù)器比發(fā)生計數(shù)器更靈活，因為它們可用于為復雜事件（例如一個時鐘沿后跟另一時鐘沿的事件）計數(shù)。可以增加、測試和重新設(shè)置全局計數(shù)器。默認情況下，全局計數(shù)器以零開頭并且不需要重新設(shè)置。深圳I3C協(xié)議分析儀那家好
