大靶面光斑分析儀怎么樣 維度光電 深圳市維度科技股份供應

發貨地點:廣東省深圳市

發布時間:2025-04-23

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維度光電的BeamHere光斑分析儀系列品類齊全。從精細的微小光斑分析到大面積的宏觀光斑探測,從**能量到高能量密度的光斑測量,無一不在其覆蓋范圍之內。無論是科研實驗中對微小光斑現象的,需要超高分辨率的光斑分析;還是工業生產里對大功率激光加工光束質量的把控,涉及高能量密度光斑的監測,BeamHere光斑分析儀都能出色勝任。 其應用方案更是豐富多樣。在激光加工領域,可助力企業優化切割、焊接工藝,確保光斑能量均勻分布,提高加工精度與效率;于生物醫學成像方面,能夠幫助科研人員清晰解析光學成像系統中的光斑特性,提升成像質量與診斷性;在光通信行業,為光信號的傳輸質量檢測提供有力保障,確保數據傳輸的高速與穩定。用于激光加工測試的光斑質量分析儀。大靶面光斑分析儀怎么樣

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維度光電BeamHere 光斑分析儀選型指南: 1. 光束特性分析 光斑尺寸:亞微米用狹縫式(2.5μm 精度),毫米級用相機式(10mm 量程)。 功率等級:高功率用狹縫式(近 10W),微瓦級用相機式(適配衰減片)。 光束形態:高斯用狹縫式(經濟),非高斯用相機式(保留細節)。 脈沖特性:單脈沖用相機式(觸發同步),連續/高頻用狹縫式(匹配掃描頻率)。 2. 應用場景適配 工業:高功率用狹縫式,動態監測與校準用相機式,組合方案覆蓋全流程。 醫療:相機式監測能量分布,脈沖激光適配觸發模式確保精度。 科研:超短脈沖與復雜光束分析用相機式,材料加工優化結合狹縫式。 光通信:光纖檢測用相機式,激光器表征用狹縫式高靈敏度測量。 3. 功能擴展規劃 單一需求:以光斑尺寸與功率為,如高功率 + 亞微米光斑選狹縫式。 復雜場景:雙技術組合(狹縫式 + 相機式),實現全場景覆蓋。 長期規劃:科研機構選全功能模塊(M 因子測試、皮秒同步),工業用戶選基礎款 + 定制接口。小光斑光斑分析儀原廠近場光斑測試系統怎么搭建?

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使用 BeamHere 光斑分析儀測量激光光斑和質量,包括以下步驟: 準備:準備 BeamHere 光斑分析儀、激光器和數據處理軟件。確保光斑傳感器放置并連接到計算機。 數據采集:啟動激光器,穩定照射傳感器,實時傳輸圖像信息到計算機。 數據分析:BeamHere 軟件自動處理數據,計算光斑參數和光束質量參數,支持 2D/3D 視圖。 結果展示:軟件以圖表和數值展示結果,一鍵生成包含所有數據的測試報告,便于導出和打印。 這些步驟幫助用戶測量光斑和光束質量,支持激光技術。

Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列采用國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術,覆蓋 190-2700nm 寬光譜,可測 2.5μm-10mm 光束直徑,0.1μm 超高分辨率突破傳統檢測極限。其創新設計實現三大優勢: 雙模式自適應檢測 通過軟件切換刀口 / 狹縫模式,分析 < 20μm 極小光斑形態或 10mm 大光斑能量分布,全量程無盲區。 高功率直接測量 狹縫物理衰減機制允許單次通過狹縫區域光,無需外置衰減片即可安全測量近 10W 高功率激光。 超分辨率成像 基于狹縫掃描原理實現 0.1μm 分辨率,完整捕捉亞微米級光斑細節,避免能量分布特征丟失。 設備內置正交狹縫轉動輪,通過旋轉掃描同步采集 XY 軸功率數據,經算法處理輸出光束直徑、橢圓率等 20 + 參數。緊湊模塊化設計適配多場景安裝,通過 CE/FCC 認證,適用于激光加工、醫療設備及科研領域,助力客戶提升光束質量檢測精度與效率。可用于自動化設備集成的光斑質量分析儀。

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相機式與狹縫式光斑分析儀對比指南 光斑分析儀的選擇需基于應用場景的光斑尺寸、功率、脈沖特性及形態復雜度: 1. 光斑尺寸 相機式:受限于 sensor 尺寸(≤10mm),小光斑為 55μm(10 倍 5.5μm 像元)。 狹縫式:刀口模式可測小 2.5μm 光斑,適合亞微米級檢測。 2. 功率范圍 相機式: 6 片衰減片(BeamHere 標配),可測 1W,需控制功率 < 10μW/cm。 狹縫式:狹縫物理衰減機制支持近 10W 直接測量,無需外置衰減片。 3. 脈沖激光 相機式:觸發模式同步捕獲完整單脈沖光斑,兼容性強。 狹縫式:需匹配掃描頻率與激光重頻,易丟失脈沖信息。 4. 光斑形態 相機式:面陣傳感器保留非高斯光束(如貝塞爾光束)及高階橫模細節。 狹縫式:狹縫累加導致復雜光斑失真,適合高斯或規則光斑。 選擇建議 狹縫式:亞微米光斑、高功率或高斯光斑檢測。 相機式:大光斑、脈沖激光或復雜非高斯光束分析。 維度光電 BeamHere 系列提供兩種技術方案,適配實驗室與工業場景的全場景需求。有沒有一體化的光斑分析儀和 M 因子測量模塊產品?Dimension-labs光斑分析儀怎么樣

光斑分析儀應該怎么選?大靶面光斑分析儀怎么樣

維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列提供高性價比光束質量檢測解決方案,涵蓋掃描狹縫式、相機式及 M 測試模塊三大產品線: 掃描狹縫式光斑分析儀采用國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術,支持 190-2700nm 寬光譜范圍,可測量 2.5μm-10mm 光束直徑,0.1μm 超高分辨率實現亞微米級光斑細節捕捉。創新狹縫物理衰減機制使其無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光,適用于激光加工等高能量場景。 相機式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,支持 2D/3D 實時成像與動態分析,可測量非高斯光束(如平頂、貝塞爾光束)。獨特的六濾光片轉輪設計實現功率范圍擴展,可拆卸結構支持科研成像功能拓展。 M 測試模塊適配全系產品,通過 ISO 11146 標準算法測量光束傳播參數(M 因子、發散角、束腰位置等),結合 BeamHere 軟件實現一鍵生成報告、多參數同步分析。系統以模塊化設計滿足光通信、醫療、工業等領域的光斑檢測需求,兼顧實驗室與產線在線監測場景。大靶面光斑分析儀怎么樣

 

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